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[미국특허] Magnetoresistance effect element 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G11B-005/33
출원번호 US-0958250 (2004-10-06)
우선권정보 JP-2000-268934(2000-09-05); JP-2000-269099(2000-09-05)
발명자 / 주소
  • Fukuzawa,Hideaki
  • Koi,Katsuhiko
  • Fuke,Hiromi
  • Tomita,Hiroshi
  • Iwasaki,Hitoshi
  • Sahashi,Masashi
출원인 / 주소
  • Kabushiki Kaisha Toshiba
대리인 / 주소
    Oblon, Spivak, McClelland, Maier &
인용정보 피인용 횟수 : 4  인용 특허 : 14

초록

There are provided a magnetoresistance effect element, a magnetic head, a magnetic head assembly and a magnetic recording system, which have high sensitivity and high reliability. The magnetoresistance effect element has two ferromagnetic layers, a non-magnetic layer provided between the ferromagnet

대표청구항

What is claimed is: 1. A magnetoresistance effect element comprising: two ferromagnetic layers, one of the two ferromagnetic layers being a magnetization fixed layer having a magnetization direction substantially fixed to one direction, and the other ferromagnetic layer being a magnetization free l

이 특허에 인용된 특허 (14) 인용/피인용 타임라인 분석

  1. Gill, Hardayal (Harry) Singh, Co-Fe supermalloy free layer for magnetic tunnel junction heads.
  2. Tan Minshen ; Tan Swie-In, Deposition of insulating thin film by a plurality of ion beams.
  3. Hardayal Singh Gill, GMR design with nano oxide layer in the second anti-parallel pinned layer.
  4. Nobuyuki Ishiwata,JPX ; Tsuge Hisanao,JPX ; Matsutera Hisao,JPX ; Tsukamoto Yuji,JPX ; Nakada Masafumi,JPX ; Kamijo Atsushi,JPX, Magneto-resistance effect type composite head and production method thereof.
  5. Matthew Joseph Carey ; Jeffrey Robinson Childress ; Robert Edward Fontana, Jr. ; Bruce Alvin Gurney ; Stuart Stephen Papworth-Parkin ; Ren Xu, Magneto-resistive and spin-valve sensor gap with reduced thickness and high thermal conductivity.
  6. Fukuzawa, Hideaki; Koi, Katsuhiko; Fuke, Hiromi; Tomita, Hiroshi; Iwasaki, Hitoshi; Sahashi, Masashi, Magnetoresistance effect element.
  7. Sakakima, Hiroshi; Sugita, Yasunari; Satomi, Mitsuo; Kawawake, Yasuhiro; Hiramoto, Masayoshi; Matsukawa, Nozomu, Magnetoresistance effect element and method for producing the same, and magnetoresistance effect type head, magnetic recording apparatus, and magnetoresistance effect memory element.
  8. Watanabe Katsuro,JPX ; Kawabe Takashi,JPX ; Tadokoro Shigeru,JPX ; Kamio Hiroshi,JPX ; Imagawa Takao,JPX, Magnetoresistive head and magnetic disk apparatus.
  9. Knapp Kenneth E. ; Rottmayer Robert E. ; Ryan Francis, Magnetoresistive read sensor including a carbon barrier layer and method for making same.
  10. Kyusik Sin ; Yingjian Chen ; Ningja Zhu ; Bill Crue, Magnetoresistive sensor having hard biased current perpendicular to the plane sensor.
  11. Kamiguchi Yuzo,JPX ; Saito Akiko,JPX ; Koui Katsuhiko,JPX ; Yoshikawa Masatoshi,JPX ; Yuasa Hiromi,JPX ; Fukuzawa Hideaki,JPX ; Hashimoto Susumu,JPX ; Iwasaki Hitoshi,JPX ; Yoda Hiroaki,JPX ; Sahashi, Multi-layered thin-film functional device and magnetoresistance effect element.
  12. Gill Hardayal Singh, Read head with dual tunnel junction sensor.
  13. Mao, Sining; Gao, Zheng; Chen, Jian; Murdock, Edward Stephens, Spin valve sensors with an oxide layer utilizing electron specular scattering effect.
  14. Mao, Sining; Mack, Anthony M.; Everitt, Brenda A.; Murdock, Edward S.; Gao, Zheng, Spin valve/GMR sensor using synthetic antiferromagnetic layer pinned by Mn-alloy having a high blocking temperature.

이 특허를 인용한 특허 (4) 인용/피인용 타임라인 분석

  1. Nozieres,Jean Pierre; Ranno,Laurent; Conraux,Yann, Magnetic memory with spin-polarized current writing, using amorphous ferromagnetic alloys, writing method for same.
  2. Erickson, Dustin; Park, Chang-man; Funada, Shin; Miloslavsky, Lena, Magnetoresistive structure having a novel specular and barrier layer combination.
  3. Erickson,Dustin W.; Park,Chang Man; Funada,Shin; Miloslavsky,Lena, Magnetoresistive structure having a novel specular and filter layer combination.
  4. Zhang, Kunliang; Wang, Shengyuan; Zhao, Tong; Li, Min; Wang, Hui-Chuan, Pinning field in MR devices despite higher annealing temperature.

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