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[미국특허] Atmospheric pressure ionization with optimized drying gas flow 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H01J-049/10
출원번호 US-0015235 (2004-12-17)
발명자 / 주소
  • Yang,Zicheng
  • Tong,Roger C.
출원인 / 주소
  • Varian, Inc.
인용정보 피인용 횟수 : 6  인용 특허 : 15

초록

An apparatus for use in atmospheric pressure ionization includes a sample receiving chamber, a sample droplet source communicating with the sample receiving chamber, an outlet conduit, and a boundary. The outlet conduit defines a sampling orifice that communicates with the sample receiving chamber.

대표청구항

What is claimed is: 1. An apparatus for use in atmospheric pressure ionization, comprising: a sample receiving chamber; a sample droplet source communicating with the sample receiving chamber; an outlet conduit defining a sampling orifice communicating with the sample receiving chamber; and a bound

이 특허에 인용된 특허 (15) 인용/피인용 타임라인 분석

  1. Whitehouse, Craig M.; Andrien, Jr., Bruce A.; Sansone, Michael A.; Catalano, Clement, Atmospheric pressure ion sources.
  2. Lee, Milton L.; Collins, David C., Atmospheric pressure ionization ion mobility spectrometry.
  3. Fischer, Steven M.; Gourley, Darrell L.; Cormia, Patricia H.; Bertsch, James L., Ion sampling for APPI mass spectrometry.
  4. Henion John D. (Trumansburg NY) Covey Thomas R. (Houston TX) Bruins Andries P. (Leek NLX), Ion spray apparatus and method.
  5. Covey Thomas R. (Richmond Hill CAX) Anacleto Joseph F. (Brampton CAX), Ion spray with intersecting flow.
  6. Bertsch James L. ; Henry Kent D., Ionization chamber and mass spectrometry system containing an easily removable and replaceable capillary.
  7. Melvin A. Park ; Houle Wang ; Frank Laukien, Ionization chamber for atmospheric pressure ionization mass spectrometry.
  8. Tong, Roger; Wells, Gregory; Schachterle, Steven, Method and apparatus for atmospheric pressure chemical ionization.
  9. French ; John Barry ; Reid ; Neil M. ; Buckley ; Janette A., Method and apparatus for focussing and declustering trace ions.
  10. Labowsky Michael J. (Wayne NJ) Fenn John B. (Branford CT) Yamashita Masamichi (Tokyo JPX), Method and apparatus for the mass spectrometric analysis of solutions.
  11. Covey, Thomas R.; Jong, Raymond; Javaheri, Hassan, Method of and apparatus for ionizing an analyte and ion source probe for use therewith.
  12. Fite Wade L. (305 Pasadena Dr. Pittsburgh PA 15215), Methods and apparatus for mass spectrometric analysis of constituents in liquids.
  13. Fenn, John B.; Yamashita, Masamichi; Whitehouse, Craig, Process and apparatus for changing the energy of charged particles contained in a gaseous medium.
  14. Henion John D. (Trumansburg NY) Lee Edgar D. (Ithaca NY) Covey Thomas R. (Ithaca NY), Thermal-assisted electrospray interface (TAESI) for LC/MS.
  15. Wells Gregory J. ; Tong Roger C. ; Yee Peter P., Vortex gas flow interface for electrospray mass spectrometry.

이 특허를 인용한 특허 (6) 인용/피인용 타임라인 분석

  1. Kang, Duk Jin; Choi, Myoung Choul; Yoo, Jong Shin; Kim, Hyun Sik, Apparatus for electrospray ionization and method for electrospray ionization using the same.
  2. Loucks, Jr., Harvey D.; Goodley, Paul C., Atmospheric pressure ionization apparatus and method.
  3. Waki,Hiroaki, Atmospheric pressure ionization mass spectrometer system.
  4. Jarrell, Joseph A.; Tomany, Michael, Devices and methods for performing mass analysis.
  5. Wiseman, Justin M.; Laughlin, Brian C., Method and apparatus for embedded heater for desorption and ionization of analytes.
  6. Wang, Mingda; Fancher, Charles A.; Muntean, Felician; Steiner, Urs, Sample ionization at above-vacuum pressures.

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