$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

Apparatus and method for microwave determination of at least one physical parameter of a substance 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01R-027/04
출원번호 US-0479324 (2002-05-31)
우선권정보 IS-5960(2001-05-31)
국제출원번호 PCT/IS02/000011 (2002-05-31)
§371/§102 date 20040428 (20040428)
국제공개번호 WO02/097411 (2002-12-05)
발명자 / 주소
  • Jonsson,Olafur H.
  • Thorgeirsson,Jon Thor
  • Sangster,Alan John
출원인 / 주소
  • Intelscan Orbylgjutaekni enf.
대리인 / 주소
    Fish & Richardson P.C.
인용정보 피인용 횟수 : 3  인용 특허 : 19

초록

초록이 없습니다.

대표청구항

대표청구항이 없습니다.

이 특허에 인용된 특허 (19)

  1. Hatton Gregory J. (Houston TX) Helms David A. (Houston TX) Durrett Michael G. (Houston TX) Marrelli John D. (Houston TX) Stafford Joseph D. (Bellaire TX), Co-variance microwave water cut monitoring means and method.
    상세보기
  2. Wu Te-Kao ; Toland Brent T., Dual polarization frequency selective medium for diplexing two close bands at an incident angle.
    상세보기
  3. Nees John A. (Rochester NY) Mourou Gerard A. (Rochester NY) Jackson Todd A. (Rochester NY), Electro-optic measurement (network analysis) system.
    상세보기
  4. Lowitz David A. (Richmond VA), Impurity detector measuring parallel polarized scattered electromagnetic radiation.
    상세보기
  5. Cordes, Paul; McGonnell, Philip; Ward, Peter; Fraser, Andrew John, Measurement arrangement.
    상세보기
  6. Jakkula Pekka (Oulu FIX) Tahkola Esko (Kiviniemi FIX), Method and apparatus for determining the moisture content of a material.
    상세보기
  7. Schramm, Jr., Harry F.; Roxby, Donald L., Method and apparatus for reading two dimensional identification symbols using radar techniques.
    상세보기
  8. Flemming Michael A. (Radley Green GBX) Plested Graham N. (Didcot GBX), Method and apparatus for thin layer monitoring.
    상세보기
  9. Henning Moeller DE; Joerg Tobias DE; Andreas Noack DE, Method of and apparatus for ascertaining at least one characteristic of a substance.
    상세보기
  10. Moeller Henning,DEX ; Tobias Joerg,DEX ; Noack Andreas,DEX, Method of and apparatus for ascertaining at least one characteristic of a substance.
    상세보기
  11. Davidov Dan,ILX ; Golosovsky Michael,ILX, Near-field resistivity microscope.
    상세보기
  12. Brunner Anton (Wangen DEX) Rieskamp Klaus (Soecking DEX), Polarization means for generating circularly polarized electro-magnetic waves.
    상세보기
  13. Davidov Dan,ILX ; Golosovsky Michael,ILX, Polarization-sensitive near-field microwave microscope.
    상세보기
  14. Havkin Michael (14 Hanassi Harishon Rehovot ILX) Orleansky Eda (7 Hagidud Haivri Rishon LeZion ILX) Samson Claude (3 Savion Street Rehovot ILX), Polarizer reflector and reflecting plate scanning antenna including same.
    상세보기
  15. Anderson Alan P. (Sheffield GB2) Jackson John C. (Newark Notts GB2), Remote detector of flaws in surfaces using micro-waves.
    상세보기
  16. Fletcher James C. Administrator of the National Aeronautics and Space Administration ; with respect to an invention of ( Lanham MD) Auer Siegfried O. (Lanham MD) Schutt John B. (Silver Spring MD), Remote sensing of vegetation and soil using microwave ellipsometry.
    상세보기
  17. Reiser Kurt (Agoura CA) Harmon Scott Y. (Oak Park CA) Butler Jennifer M. (Pacific Palisades CA), Surface condition sensing system.
    상세보기
  18. Liu John M., System for detection of flaws by use of microwave radiation.
    상세보기
  19. Hoag Ethan D. (Boston MA), Wire array light polarizer for gas laser.
    상세보기

이 특허를 인용한 특허 (3)

  1. Mahler, Michael; Hoffmann, Ulli; Krapf, Reiner; Wieland, Christoph; Wewers, Felix, Method and device for determining the thickness of material using high frequency.
    상세보기
  2. Sternklar, Shmuel; Ben-Ayun, Moshe, Method and system for controlling phase of a signal.
    상세보기
  3. Sternklar, Shmuel; Biton, Moran, Method and system for controlling phase of a signal.
    상세보기

관련 콘텐츠

섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로