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[미국특허] Method and apparatus for probing an electronic device in which movement of probes and/or the electronic device includes a lateral component 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01R-031/02
출원번호 US-0781369 (2004-02-18)
발명자 / 주소
  • Cooper,Timothy E.
  • Eldridge,Benjamin N.
  • Khandros,Igor Y.
  • Martens,Rod
  • Mathieu,Gaetan L.
출원인 / 주소
  • FormFactor, Inc.
인용정보 피인용 횟수 : 33  인용 특허 : 7

초록

초록이 없습니다.

대표청구항

대표청구항이 없습니다.

이 특허에 인용된 특허 (7) 인용/피인용 타임라인 분석

  1. Khoury Theodore A. ; Frame James W., Contact structure and production method thereof.
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  2. Montoya Thomas T., Method for probing a semiconductor wafer using a motor controlled scrub process.
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  3. Eldridge Benjamin N. ; Grube Gary W. ; Khandros Igor Y. ; Mathieu Gaetan L., Method of planarizing tips of probe elements of a probe card assembly.
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  4. Coughlin Charles P. (Chelsea NY), Modular test probe.
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  5. Kobayashi Masahito,JPX ; Ishii Kazunari,JPX, Probe-test method and prober.
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  6. Karasawa Wataru (Yokohama JPX), Probing test method of contacting a plurality of probes of a probe card with pads on a chip on a semiconductor wafer.
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  7. Hantschel, Thomas; Chow, Eugene M.; Fork, David K., Scanning probe system with spring probe.
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이 특허를 인용한 특허 (33) 인용/피인용 타임라인 분석

  1. Cooper, Timothy E.; Eldridge, Benjamin N.; Khandros, Igor Y.; Martens, Rod; Mathieu, Gaetan L., Composite motion probing.
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  2. Erdman, Joel N.; Sherry, Jeffrey C.; Michalko, Gary W., Electrically conductive Kelvin contacts for microcircuit tester.
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  3. Erdman, Joel N.; Sherry, Jeffrey C.; Michalko, Gary W., Electrically conductive Kelvin contacts for microcircuit tester.
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  4. Erdman, Joel N.; Sherry, Jeffrey C.; Michalko, Gary W., Electrically conductive kelvin contacts for microcircuit tester.
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  5. Erdman, Joel; Sherry, Jeffrey; Michalko, Gary, Electrically conductive kelvin contacts for microcircuit tester.
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  6. Cooper, Timothy E.; Eldridge, Benjamin N.; Khandros, Igor Y.; Martens, Rod; Mathieu, Gaetan L., Electronic device testing using a probe tip having multiple contact features.
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  7. Breinlinger, Keith J., Hybrid electrical contactor.
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  8. Kister, January, Knee probe having increased scrub motion.
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  9. Kister, January, Knee probe having reduced thickness section for control of scrub motion.
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  10. Kister, January, Knee probe having reduced thickness section for control of scrub motion.
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  11. Kister, January, Layered probes with core.
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  12. Kister, January, Low profile probe having improved mechanical scrub and reduced contact inductance.
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  13. Kister, January, Low profile probe having improved mechanical scrub and reduced contact inductance.
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  14. Ishii, Kazunari, Method for setting contact parameter and recording medium having program for setting contact parameter recorded thereon.
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  15. Cooper,Timothy E.; Eldridge,Benjamin N.; Khandros,Igor Y.; Martens,Rod; Mathieu,Gaetan L., Methods of probing an electronic device.
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  16. Kister, January, Multiple contact probes.
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  17. Kister, January, Multiple contact probes.
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  18. Kister, January, Probe bonding method having improved control of bonding material.
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  19. Kister, January, Probe bonding method having improved control of bonding material.
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  20. Kister, January, Probe cards employing probes having retaining portions for potting in a potting region.
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  21. Kister, January; Shtarker, Alex, Probe retention arrangement.
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  22. Kister, January; Shtarker, Alex, Probe retention arrangement.
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  23. Kister, January, Probe skates for electrical testing of convex pad topologies.
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  24. Kister, January, Probes with high current carrying capability and laser machining methods.
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  25. Kister, January, Probes with offset arm and suspension structure.
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  26. Kister, January, Probes with self-cleaning blunt skates for contacting conductive pads.
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  27. Kister, January, Space transformers employing wire bonds for interconnections with fine pitch contacts.
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  28. Yabuki,Richard; Tea,Nim, Stacked contact bump.
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  29. Kister, January, Vertical guided layered probe.
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  30. Kister, January, Vertical guided probe array providing sideways scrub motion.
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  31. Kister, January, Vertical probe array arranged to provide space transformation.
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  32. Kister, January, Vertical probe array arranged to provide space transformation.
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  33. Kister, January, Vertical probe array arranged to provide space transformation.
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