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Methods and apparatus for detecting and quantifying surface characteristics and material conditions using light scattering 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-021/88
출원번호 US-0823385 (2004-04-12)
발명자 / 주소
  • Earthman,James C.
  • Markov,Vladimir B.
  • Trolinger,James D.
  • Dunn Rankin,Derek
  • Buckner,Benjamin D.
출원인 / 주소
  • MetroLaser, Inc.
대리인 / 주소
    MacPherson Kwok Chen & Heid LLP
인용정보 피인용 횟수 : 21  인용 특허 : 11

초록

초록이 없습니다.

대표청구항

대표청구항이 없습니다.

이 특허에 인용된 특허 (11)

  1. Birang Manoocher, Apparatus and method for detecting surface roughness in a chemical polishing pad conditioning process.
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  2. Valliant James G. (Bozeman MT) Goebel David G. (El Cajon CA), Apparatus and method for dynamic measurement of surface roughness.
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  3. Malin Comas (Mauren LIX) Steigmeier Edgar F. (Hedingen CHX) Nesensohn Thomas (Batschuns ATX) Sawatzki Harry L. (Schaan LIX) Auderset Heinrich (Aeugst CHX) Schmid Gert (Thringen CHX), Apparatus for surface inspections.
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  4. Vaez-Iravani, Mehdi; Rzepiela, Jeffrey Alan; Treadwell, Carl; Zeng, Andrew; Fiordalice, Robert, Defect detection system.
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  5. Steven W. Meeks ; Rusmin Kudinar, High speed optical profilometer for measuring surface height variation.
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  6. Jann Peter C. ; Krumbuegel Marco A. ; Lee Reginald ; Yang Ming M., Laser-bump sensor method and apparatus.
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  7. Corby ; Jr. Nelson R. (Scotia NY), Method of enhancing surface features and detecting same.
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  8. Ellingson William A. (Naperville IL) Brada Mark P. (Goleta CA), Optical method and apparatus for detection of surface and near-subsurface defects in dense ceramics.
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  9. Moslehi Mehrdad M. (Dallas TX), Sensor for semiconductor device manufacturing process control.
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  10. Svetkoff Donald J. ; Rohrer Donald K. ; Kelley Robert W., Triangulation-based 3-D imaging and processing method and system.
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  11. Turner William R. (Silver Spring MD), Visualization by ultrasonic detection.
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이 특허를 인용한 특허 (21)

  1. Fraser, Jay; Weber, Lawrence, Authentication method and system.
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  2. Cowburn, Russell Paul, Authenticity verification methods, products and apparatuses.
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  3. Cowburn, Russell Paul, Authenticity verification methods, products, and apparatuses.
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  4. Cowburn, Russell Paul, Authenticity verification of articles using a database.
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  5. Cowburn, Russell Paul, Creating authenticatable printed articles and subsequently verifying them based on scattered light caused by surface structure.
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  6. Kilpatrick, James; Apostol, Adela; Markov, Vladimir, Method and system for conformal imaging vibrometry.
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  7. Kilpatrick, James; Apostol, Adela; Markov, Vladimir, Method and system for conformal imaging vibrometry.
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  8. Cowburn, Russell Paul, Methods and apparatuses for creating authenticatable printed articles and subsequently verifying them.
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  9. Cowburn, Russell Paul, Methods and apparatuses for creating authenticatable printed articles and subsequently verifying them.
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  10. Subramaniyan, Arun Karthi; Khan, Khan Mohamed Khirullah Genghis; Bueno, Clifford; Can, Ali; Loghin, Adrian Gabriel; Yu, Jie, Methods and systems for detecting component wear.
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  11. Cowburn, Russell Paul; Buchanan, James David Ralph; Seem, Peter Robert, Optical authentication.
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  12. Cowburn, Russell Paul; Buchanan, James David Ralph; Seem, Peter Robert, Optical authentication.
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  13. Cowburn, Russell Paul; Buchanan, James David Ralph, Optimisation.
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  14. Cowburn, Russell Paul, Self-calibration.
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  15. Cowburn, Russell Paul; Seem, Peter, Signature generation for use in authentication and verification using a non-coherent radiation source.
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  16. Cowburn, Russell Paul, System and method for article authentication using blanket illumination.
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  17. Cowburn, Russell Paul, System and method for article authentication using encoded signatures.
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  18. Cowburn, Russell Paul, System and method for article authentication using signatures.
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  19. Cowburn, Russell Paul, System and method for article authentication using thumbnail signatures.
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  20. Cowburn, Russell Paul; Buchanan, James David Ralph, Verification of authenticity.
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  21. Chamberlain, Adam Lee; Lazur, Andrew Joseph; Lee, Kang N., Visual indicator of coating thickness.
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