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연합인증

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Scheme for evaluating costs and/or benefits of manufacturing technologies 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G06F-017/14
출원번호 US-0571826 (2000-05-16)
발명자 / 주소
  • Balasinski,Artur P.
출원인 / 주소
  • Cypress Semiconductor Corp.
대리인 / 주소
    Daffer McDaniel, LLP
인용정보 피인용 횟수 : 21  인용 특허 : 4

초록

초록이 없습니다.

대표청구항

대표청구항이 없습니다.

이 특허에 인용된 특허 (4)

  1. Porter Alexander J., Design maturity algorithm.
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  2. Jameson Joel, Method and apparatus for allocating, costing, and pricing organizational resources.
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  3. Sokol Thomas J. (442 Twisting Pine Cir. Longwood FL 32779), Monolithic crystal strip filter.
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  4. Ryan Arthur ; Andrade Hugo, Reconfigurable test system.
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이 특허를 인용한 특허 (21)

  1. Lee, Matthew; Nagy, Tom; Vanden Heuvel, David Noel; Andrade, Russell Raymond, Camera with automatic fluorescent lighting mode.
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  2. Wetzer, Michael; Garrow, Gary R.; West, II, David P.; Weir, Patrick E.; Newton, III, Charles P., Computerized predictive maintenance system and method.
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  3. Silvera, Juan D.; Ageenko, Ilieva Ilizastigui, Emerging trends lifecycle management.
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  4. Wetzer, Michael; Garrow, Gary R.; West, II, David P.; Weir, Patrick E.; Ashby, Gary; Newton, III, Charles P., Identification, categorization, and integration of unplanned maintenance, repair and overhaul work on mechanical equipment.
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  5. Wetzer,Michael; Garrow,Gary R.; West, II,David P.; Weir,Patrick E.; Ashby,Gary; Newton, III,Charles P., Identification, categorization, and integration of unplanned maintenance, repair and overhaul work on mechanical equipment.
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  6. Wezter, Michael; Garrow, Gary R.; West, II, David P.; Weir, Patrick E.; Ashby, Gary; Newton, III, Charles P., Maintenance, repair and overhaul management.
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  7. Wetzer, Michael; West, II, David P.; Weir, Patrick E.; Garrow, Gary R.; Newton, III, Charles P., Managing maintenance for an item of equipment.
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  8. Tzu,San De, Mask for fabricating semiconductor devices and method for designing the same.
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  9. Hertz, Michael T.; Herald, Jr., Thomas E., Method and apparatus for estimating the refresh strategy or other refresh-influenced parameters of a system over its life cycle.
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  10. Sachdev, Sunit K.; Jones, Nelson A.; Srinivasan, Syamala, Method and system for analyzing a plurality of parts.
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  11. Ramesh, Anapathur V.; Covert, Paul M.; Rhodes, Stephen C.; Hunter, Scott C.; Vian, John L.; Wilmering, Timothy J., Method and system for evaluating costs of various design and maintenance approaches.
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  12. Fu, Chung-Min; Harn, Yu-Chyi, Method and system for predicting shrinkable yield for business assessment of integrated circuit design shrink.
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  13. Wetzer,Michael; Garrow,Gary R.; West, II,David P.; Weir,Patrick E.; Ashby,Gary; Newton, III,Charles P., Optimization of management of maintenance, repair and overhaul of equipment in a specified time window.
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  14. West, II, David P.; Baldwin, Sherman; Wetzer, Michael; Weir, Patrick E.; Garrow, Gary R.; Newton, III, Charles P., Performance-based logistics for aerospace and defense programs.
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  15. Garrow,Gary R.; Newton, III,Charles P.; Weir,Patrick E.; West, II,David P.; Wetzer,Michael, Performing predictive maintenance based on a predictive maintenance target.
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  16. Garrow,Gary R.; Newton, III,Charles P.; Weir,Patrick E.; West, II,David P.; Wetzer,Michael, Planning and scheduling modification of a configuration.
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  17. Garrow,Gary R.; Newton, III,Charles P.; Weir,Patrick E.; West, II,David P.; Wetzer,Michael, Predictive maintenance system.
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  18. Marsten, Roy E., Product configuration modeling and optimization.
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  19. Marsten, Roy E., Product configuration modeling and optimization.
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  20. Marsten, Roy E., Product configuration modeling and optimization.
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  21. Ren, Shijin; Daggett, Daniel A.; Hamilton, John D., Product efficiency calculator system and method.
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