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[미국특허] Predictive, adaptive power supply for an integrated circuit under test 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01R-031/28
출원번호 US-0237092 (2005-09-27)
발명자 / 주소
  • Eldridge,Benjamin N.
  • Miller,Charles A.
출원인 / 주소
  • FormFactor, Inc.
인용정보 피인용 횟수 : 4  인용 특허 : 21

초록

초록이 없습니다.

대표청구항

대표청구항이 없습니다.

이 특허에 인용된 특허 (21) 인용/피인용 타임라인 분석

  1. Benjamin N. Eldridge ; Charles A. Miller, Apparatus for reducing power supply noise in an integrated circuit.
  2. Benjamin N. Eldridge ; Charles A. Miller, Apparatus for reducing power supply noise in an integrated circuit.
  3. Kwon Oh-Kyong (Plano TX) Hashimoto Masashi (Garland TX) Malhi Satwinder (Garland TX) Born Eng C. (Richardson TX), Full wafer integrated circuit testing device.
  4. Shigehiro Kamimura JP, IC tester and IC test method.
  5. Takano Kazuo (Saitama JPX), IC tester having a pattern selector capable of selecting pins of a device under test.
  6. Persons Thomas Walkley, Integrated circuit test method and structure.
  7. Wohlfarth Paul Dana, Linear ramping digital-to-analog converter for integrated circuit tester.
  8. Schinabeck John (Pleasanton CA) Murdock James R. (San Jose CA), Method and apparatus for applying and monitoring programmed test signals during automated testing of electronic circuits.
  9. Aihara Kenichi,JPX, Method and apparatus for detecting failures between circuits.
  10. Dang Alexander T., Method and apparatus for improving timing accuracy of a semiconductor test system.
  11. Naujoks Adolph C., Method and apparatus for testing electronic circuitry in a manufacturing environment.
  12. Chen Jimmy Kuo-Wei ; Eldridge Benjamin N. ; Dozier Thomas H. ; Yeh Junjye J. ; Herman Gayle J., Method of making a product with improved material properties by moderate heat-treatment of a metal incorporating a dilute additive.
  13. Mathieu Gaetan L. ; Eldridge Benjamin N. ; Grube Gary W., Method of making and using lithographic contact springs.
  14. Khandros Igor Y. (Peekskil NY), Method of manufacturing electrical contacts, using a sacrificial member.
  15. Eldridge Benjamin N. ; Grube Gary W. ; Khandros Igor Y. ; Mathieu Gaetan L., Method of planarizing tips of probe elements of a probe card assembly.
  16. Eldridge, Benjamin N.; Miller, Charles A., Predictive, adaptive power supply for an integrated circuit under test.
  17. Eldridge, Benjamin N.; Miller, Charles A., Predictive, adaptive power supply for an integrated circuit under test.
  18. Anderson James C. (Santa Rosa CA) Phillips Brian P. (Glenn Ellen CA) Honek Charles (Santa Rosa CA), Probe card system and method.
  19. McDonald Charles, Quiescent power supply current test method and apparatus for integrated circuits.
  20. Kurihara Osamu,JPX, Semiconductor integrated circuit testing apparatus and composite semiconductor integrated circuit testing apparatus.
  21. Cook, Donald J.; Allard, Harvey, System for and method of testing a microelectronic device using a dual probe technique.

이 특허를 인용한 특허 (4) 인용/피인용 타임라인 분석

  1. Hsu, Chia-Chi, Chip test apparatus and probe card circuit.
  2. Vulovic, Marko, Continuous broken sense lead detection system.
  3. Eldridge, Benjamin N.; Miller, Charles A., Predictive, adaptive power supply for an integrated circuit under test.
  4. Henson, Roy John; Tabor, Harry Joe, Self-referencing voltage regulator.

활용도 분석정보

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