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연합인증

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Semiconductor integrated circuit 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01R-031/28
  • G11C-007/00
출원번호 US-0805227 (2004-03-22)
우선권정보 JP-2004-009329(2004-01-16)
발명자 / 주소
  • Hirabayashi,Osamu
출원인 / 주소
  • Kabushiki Kaisha Toshiba
대리인 / 주소
    Oblon, Spivak, McClelland, Maier & Neustadt, P.C.
인용정보 피인용 횟수 : 9  인용 특허 : 3

초록

초록이 없습니다.

대표청구항

대표청구항이 없습니다.

이 특허에 인용된 특허 (3)

  1. Giles Grady L. (Austin TX) Wilson Jesse R. (Austin TX) Hulett Terry V. (Austin TX), Accelerated test apparatus and support logic for a content addressable memory.
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  2. Sharma, Debendra Das, ECC code mechanism to detect wire stuck-at faults.
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  3. Matsuda Yoshio (Hyogo JPX) Fujishima Kazuyasu (Hyogo JPX) Hidaka Hideto (Hyogo JPX) Asakura Mikio (Hyogo JPX), Semiconductor memory device having an SRAM as a cache memory integrated on the same chip and operating method thereof.
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이 특허를 인용한 특허 (9)

  1. Kern, Thomas; Hofmann, Karl; Goessel, Michael, Apparatus and method for improving data storage by data inversion.
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  2. Arnez, Andreas; Vogt, Joerg-Stephan, Fast ECC memory testing by software including ECC check byte.
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  3. Shore, Michael A., Memory devices, testing systems and methods.
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  4. Shore, Michael A., Memory devices, testing systems and methods.
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  5. Shore, Michael A., Memory devices, testing systems and methods.
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  6. Kim, Hong Beom, Parallel bit testing device and method.
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  7. Jeong, Yonghwan; Chung, Hoiju, Semiconductor memory device and testing method thereof.
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  8. Son, Jong-Pil; Park, Chul-Woo; Chung, Hoi-Ju; Cha, Sang-Uhn; Jang, Seong-Jin, Semiconductor memory devices, memory systems including the same and methods of operating the same.
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  9. Chen, Ming-Dar; Lin, Chuan-Sheng; Hsieh, Hsiang-An; Chang, Hui-Neng, Storage system with data recovery function and method thereof.
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