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High pressure processing method 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • B08B-003/02
출원번호 US-0249444 (2005-10-14)
등록번호 US-7252719 (2007-08-07)
우선권정보 JP-2001-128276(2001-04-25); JP-2001-133003(2001-04-27)
발명자 / 주소
  • Sakashita,Yoshihiko
  • Watanabe,Katsumi
  • Oshiba,Hisanori
  • Sarumaru,Shogo
  • Muraoka,Yusuke
  • Saito,Kimitsugu
  • Mizobata,Ikuo
  • Kitakado,Ryuji
출원인 / 주소
  • Kabushiki Kaisha Kobe Seiko Sho
  • Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd.
대리인 / 주소
    Oblon, Spivak, McClelland, Maier & Neustadt, P.C.
인용정보 피인용 횟수 : 0  인용 특허 : 20

초록

A high-pressure processing apparatus includes a processing vessel including a processing chamber formed therein to perform a certain process onto an object in the processing chamber; fluid feeding means which feeds a high-pressure fluid into the processing chamber; fluid discharging means which disc

대표청구항

What is claimed is: 1. A high-pressure processing method comprising the steps of: feeding a corrosive fluid into a processing chamber of a pressure vessel through a first feeding communication channel; washing an object supportively loaded in the processing chamber with the corrosive fluid under an

이 특허에 인용된 특허 (20)

  1. Babich Edward D. (Chappaqua NY) Flagello Donis G. (Ridgefield CT) Hatzakis Michael (Chappaqua NY) Paraszczak Jurij R. (Pleasantville NY) Shaw Jane M. (Ridgefield CT) Witman David F. (Pleasantville NY, Alkaline developable photoresist composition containing radiation sensitive organosilicon compound with quinone diazide.
  2. Taniyama Hiroki,JPX ; Arihisa Toshikazu,JPX, Apparatus for cleaning both sides of substrate.
  3. Babich Edward D. (Chappaqua NY) Galligan Eileen A. (Hopewell Junction NY) Gelorme Jeffrey D. (Plainville CT) McGouey Richard P. (Carmel NY) Nunes Sharon L. (Hopewell Junction NY) Paraszczak Jurij R. , Base developable negative photoresist composition and use thereof.
  4. Miyajima Toshihiko,JPX, Clean box, clean transfer method and apparatus therefor.
  5. Babich Edward D. (Chappaqua NY) Gelorme Jeffrey D. (Plainville CT) Nunes Ronald W. (Hopewell Junction NY) Nunes Sharon L. (Hopewell Junction NY) Paraszczak Jurij R. (Pleasantville NY) Serino Russell , Dry developable photoresist and use thereof.
  6. Levenson Eric O. ; Waleh Ahmad, Method of forming patterns in organic coatings films and layers.
  7. Hori Masaru,JPX ; Yano Hiroyuki,JPX ; Horioka Keiji,JPX ; Okano Haruo,JPX, Method of manufacturing semiconductor device.
  8. Gupta Subhash (1578 Meadow Ridge Cir. San Jose CA 95131) Singh Bhanwar (17122 Heatherwood Way Morgan Hill CA 95037) Waleh Ahmad (2344 Emerson St. Palo Alto CA 94301), Method of stripping layers of organic materials.
  9. Fosnight William J. ; Shenk Joshua W., Passively activated valve for carrier purging.
  10. Onishi Yasunobu (Yokohama JPX) Kobayashi Yoshihito (Kawasaki JPX) Niki Hirokazu (Yokohama JPX), Pattern formation resist and pattern formation method.
  11. Blackwood Robert S. (Chanhassen MN), Positive developing method and apparatus.
  12. Maruyama Takashi,JPX ; Chijimatsu Tatsuo,JPX ; Kobayashi Koichi,JPX ; Yano Keiko,JPX ; Kanata Hiroyuki,JPX, Process for production of semiconductor device and resist developing apparatus used therein.
  13. McCullough Kenneth John ; Purtell Robert Joseph ; Rothman Laura Beth ; Wu Jin-Jwang, Residue removal by supercritical fluids.
  14. Maruyama Takashi,JPX ; Chijimatsu Tatsuo,JPX ; Kobayashi Koichi,JPX ; Yano Keiko,JPX ; Kanata Hiroyuki,JPX, Resist developing apparatus used in process for production of semiconductor device.
  15. Tateyama Kiyohisa,JPX ; Motoda Kimio,JPX ; Iwasaki Tatsuya,JPX ; Matsuo Takenobu,JPX ; Denpoh Kazuki,JPX ; Yamaguchi Eiji,JPX, Resist processing apparatus for a rectangular substrate.
  16. Yanagita, Kazutaka; Ohmi, Kazuaki; Sakaguchi, Kiyofumi, Sample processing system.
  17. Bergman Eric J. ; Berner Robert W. ; Oberlitner David, Semiconductor processing using vapor mixtures.
  18. Sahbari, Javad J., Stripper.
  19. Yoshitani Mitsuaki,JPX, Substrate treating apparatus.
  20. Schwenkler Robert S. (Boise ID), Vapor jet dryer apparatus and method.
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