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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0335948 (2006-01-20) |
등록번호 | US-7258124 (2007-08-21) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 1 인용 특허 : 5 |
An apparatus and method for treating surfaces of semiconductor wafers with a reactive gas, such as ozone, utilizes streams of gaseous material ejected from a gas nozzle structure to create depressions on or holes through a boundary layer of processing fluid formed on a semiconductor wafer surface to
What is claimed is: 1. An apparatus for treating a surface of an object with a reactive gas comprising: an object holding structure configured to hold said object; a rotational drive mechanism connected to the object holding structure to rotate the object holding structure and said object; a fluid
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