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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0570211 (2004-08-20) |
등록번호 | US-7330046 (2008-02-12) |
우선권정보 | EP-03102689(2003-09-03) |
국제출원번호 | PCT/IB04/051511 (2004-08-20) |
§371/§102 date | 20060228 (20060228) |
국제공개번호 | WO05/022747 (2005-03-10) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 6 인용 특허 : 6 |
Power conversion circuits often consist of several MOSFETs operating in parallel. Due to thermal cycling and mechanical operations. MOSFETs or the respective electric connections of the MOSFETs may fail. For certain implementations, a diagnosis circuit for a plurality of parallel MOSFETs predicts
The invention claimed is: 1. Electronic circuit, comprising: a first MOSFET and a second MOSFET, wherein the first and second MOSFETs are arranged in parallel; and a diagnosis circuit for predicting a possible failure of one of the first and second MOSFETs; wherein the diagnosis circuit predicts th
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