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[미국특허] Apparatus for detecting an amount of strain and method for manufacturing same 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H01C-017/06
  • H01C-017/28
출원번호 US-0298527 (2005-12-12)
등록번호 US-7331102 (2008-02-19)
우선권정보 JP-P2002-287881(2002-09-30)
발명자 / 주소
  • Nagasaka,Hiroshi
  • Yoshida,Naoki
  • Kodama,Hiroshi
출원인 / 주소
  • Nagano Keiki Co., Ltd.
대리인 / 주소
    Steptoe & Johnson LLP
인용정보 피인용 횟수 : 1  인용 특허 : 23

초록 ▼

An apparatus for detecting an amount of strain comprises a strain generating part, an electrical insulating layer and sensing elements. The strain generating part is a member to which strain is to be applied. The electrical insulating layer is formed on the strain generating part. The sensing elemen

대표청구항 ▼

What is claimed is: 1. A method for manufacturing an apparatus for detecting an amount of strain, comprising the steps of: (a) preparing a strain application member to which strain is to be applied; (b) forming an electrical insulating layer on said strain application member; (c) preparing material

이 특허에 인용된 특허 (23) 인용/피인용 타임라인 분석

  1. Ivan J. Garshelis, Circularly magnetized non-contact torque sensor and method for measuring torque using the same.
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  2. Jean-Maurice Tellenbach CH, Elastic component for a precision instrument and process for its manufacture.
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  3. Jean-Maurice Tellenbach CH, Elastic component for a precision instrument and process for its manufacture.
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  4. Hajduk, Damian A.; Carlson, Eric D.; Freitag, J. Christopher; Kolosov, Oleg; Engstrom, James R.; Safir, Adam; Srinivasan, Ravi; Matsiev, Leonid, High throughput mechanical property and bulge testing of materials libraries.
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  5. Hajduk, Damian A.; Carlson, Eric D.; Freitag, J. Christopher; Kolosov, Oleg; Engstrom, James R.; Safir, Adam; Srinivasan, Ravi; Matsiev, Leonid, High throughput mechanical property testing of materials libraries using a piezoelectric.
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  6. Hajduk, Damian A.; Carlson, Eric D.; Freitag, J. Christopher; Kolosov, Oleg; Engstrom, James R.; Safir, Adam; Srinivasan, Ravi; Matsiev, Leonid, High throughput mechanical property testing of materials libraries using capacitance.
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  7. Kawano, Osamu; Wakita, Junichi; Takahashi, Yuzo; Mabuchi, Hidesato; Takahashi, Manabu; Uenishi, Akihiro; Kuriyama, Yukihisa; Okamoto, Riki; Sakuma, Yasuharu, High-strength steel sheet highly resistant to dynamic deformation and excellent in workability and process for the production thereof.
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  8. Utsunomiya Michito (Shiga JPX) Naito Kazufumi (Shiga JPX) Konishi Hiroyuki (Shiga JPX) Tamai Shotaro (Shiga JPX), Load cell and weighing apparatus including a strain sensor welded to a strain inducing device.
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  9. Huff, Michael A.; Benard, William L.; Lisy, Frederick J.; Prince, Troy S., Method and sensor for detecting strain using shape memory alloys.
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  10. Tsang Robert W. K. (Bedford MA) Core Theresa A. (North Andover MA), Method for fabricating monolithic chip containing integrated circuitry and suspended microstructure.
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  11. Seiichiro Ishio JP; Inao Toyoda JP; Yasutoshi Suzuki JP, Method for manufacturing semiconductor pressure sensor having reference pressure chamber.
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  12. Fukada Tsuyoshi (Kariya JPX), Method of forming a semiconductor strain sensor.
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  13. Naito, Kazufumi; Imai, Kenji; Zama, Matsuo; Sasaki, Naoki, Method of producing a load cell.
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  14. Tanabe Masanori (Hitachi JPX) Shimada Satoshi (Hitachi JPX) Yasukawa Akio (Ibaraki JPX) Nemoto Hideyuki (Katsuta JPX) Nishihara Motohisa (Katsuta JPX) Tsuchiya Masatoshi (Hitachi JPX) Soeno Ko (Hitac, Method of producing semiconductor displacement transducer.
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  15. Sherman Steven J. (Andover MA) Tsang Robert W. K. (Bedford MA) Core Theresa A. (North Andover MA) Brokaw A. Paul (Burlington MA), Monolithic chip containing integrated circuitry and suspended microstructure.
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  16. Varma, Venugopal K., Multi-range force sensors utilizing shape memory alloys.
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  17. Tabata Aki (Isehara) Tajika Jun (Hiratsuka) Inagaki Hiroshi (Hiratsuka) Kobayashi Yukio (Isehara) Suzuki Noritake (Hiratsuka JPX), Pressure sensor.
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  18. Gregory, Otto J., Self-compensated ceramic strain gage for use at high temperatures.
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  19. Kamachi Makoto (Kanagawa JPX) Tajika Jun (Kanagawa JPX) Tabata Aki (Kanagawa JPX) Suzuki Noritake (Kanagawa JPX) Inagaki Hiroshi (Kanagawa JPX), Semiconductor film pressure sensor and method of manufacturing same.
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  20. Yasuda, Naoki; Fukami, Tatsuya; Taguchi, Motohisa; Kawano, Yuji, Sensor element and its manufacturing method.
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  21. Graeger Volker (Buchholz DEX) Kobs Rolf U. D. (Tornesch DEX) Schfer Horst (Hannoversch Mnden DEX) Zeile Heinrich (Hamburg DEX), Silicon pressure sensor having a resistance layer of polycrystalline semicondutor.
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  22. Toyooka, Takaaki; Yorifuji, Akira; Kitazawa, Makoto; Kawabata, Yoshikazu; Itadani, Motoaki; Aratani, Masatoshi; Okabe, Takatoshi, Stainless steel tube for automobile structure.
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  23. Shiuh-Hui Steven Chen ; Yanling Kang ; Sut-Mui Tang ; Joe P. Wang, Strain gauge.
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이 특허를 인용한 특허 (1) 인용/피인용 타임라인 분석

  1. Jang, Jiwoong; Lee, Moonil; Chung, Jaehoon; Han, Seunghee; Ko, Hyunsoo, Method for transmitting control information in wireless communication system and apparatus therefor.
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