검색연산자 | 기능 | 검색시 예 |
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() | 우선순위가 가장 높은 연산자 | 예1) (나노 (기계 | machine)) |
공백 | 두 개의 검색어(식)을 모두 포함하고 있는 문서 검색 | 예1) (나노 기계) 예2) 나노 장영실 |
| | 두 개의 검색어(식) 중 하나 이상 포함하고 있는 문서 검색 | 예1) (줄기세포 | 면역) 예2) 줄기세포 | 장영실 |
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* | 검색어의 *란에 0개 이상의 임의의 문자가 포함된 문서 검색 | 예) semi* |
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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) | G01S-003/02 |
미국특허분류(USC) | 342/442; 342/451 |
출원번호 | US-0224576 (2005-09-12) |
등록번호 | US-7342536 (2008-03-11) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 8 인용 특허 : 25 |
A method, system, and computer program product are provided for determining the location of an emitter. A first subset of a plurality of parameters comprising a signal model associated with the emitter is selected. Values are estimated for the selected first subset of the plurality of parameters from a plurality of time of arrival measurements associated with the emitter and the signal model. Estimated values are generated for the plurality of parameters according to the estimated values for the selected first subset of the plurality of parameters, a pl...
Having described the invention, the following is claimed: 1. A method for determining the location of an emitter, comprising: selecting a first subset of a plurality of parameters comprising a signal model associated with the emitter; estimating values for the selected first subset of the plurality of parameters from a plurality of time of arrival measurements associated with the emitter and the signal model, the estimation of the selected first subset of the plurality of parameters comprising: defining a fitness surface from the selected first subset o...