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[미국특허] Machine tool probe 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G08B-021/00
  • G01B-005/004
  • G01B-005/00
출원번호 US-0478661 (2006-07-03)
등록번호 US-7486195 (2009-02-03)
우선권정보 GB-0102750.7(2001-02-02); GB-0112998.0(2001-05-30)
발명자 / 주소
  • Collingwood,David
  • Fuge,Jonathan Paul
  • Salt,Geoffrey
출원인 / 주소
  • Renishaw PLC
대리인 / 주소
    Oliff & Berridge, PLC
인용정보 피인용 횟수 : 2  인용 특허 : 19

초록

A probe has internal circuitry capable of operating in a plurality of different modes, for example a variety of filter modes and turn off modes. A switch on the probe sends an input to a controller which is arranged to set the mode in response to operation of the switch. The switch may be a push but

대표청구항

What is claimed is: 1. A measurement probe for a position determining apparatus, the measurement probe comprising: a surface sensor comprising a surface containing stylus that is deflectable; internal circuitry capable of operating in a plurality of different modes; a switch; and a controller conne

이 특허에 인용된 특허 (19) 인용/피인용 타임라인 분석

  1. Mariani Michael A. (North Kingstown RI) Sheehan Kenneth L. (Saunderstown RI), Control axis mounted computer interface for coordinate measuring machines.
  2. Fuchs Anton (Bhmenkirchen DEX) Aubele Eugen (Bhmenkirchen DEX) Kern Rudi (Aalen DEX) Rgele Rudolf (Konigsbronn DEX) Puntigam Walter (Groskuchen DEX) Aubele Karl-Eugen (Geislingen DEX), Coordinate measurement machine having a probe head and an electronic system for processing probe signals.
  3. Raab Simon ; Bodjack John, Display device for a coordinate measurement machine.
  4. Yamazaki, Iwao; Izawa, Yoshihiro, Handbreadth-sized laser beam projecting probe for beauty treatment.
  5. Rosenberg Louis B. ; Schena Bruce M. ; Jackson Bernard G., Method and apparatus for tracking the position and orientation of a stylus and for digitizing a 3-D object.
  6. Raab Simon (Longwood FL), Method of constructing a 3-dimensional map of a measurable quantity using three dimensional coordinate measuring apparat.
  7. McMurtry David R. (Wotton-Under-Edge GBX), Position-sensing apparatus.
  8. Doran Samuel Kay ; Weissmann Erwin Ernst, Precision tool control system for a workpiece positioning apparatus.
  9. Kimura Tetsuo,JPX ; Noda Takashi,JPX, Probe coordinate system driving apparatus.
  10. Wolfgang Madlener DE; Wilfried Veil DE, Probe for machine tools with a tool spindle.
  11. Cusack Robert F. (Grosse Pointe MI), Probe with stylus pressure adjustment.
  12. McMurtry David R. (Bristol GB2), Probes.
  13. Cresson Serge,FRX, Programmable probe system.
  14. Komninos Nikolaos I., Signal detector and method for detecting signals having selected frequency characteristics.
  15. Stobbe Richard E. (Greenfield WI) Johnstone Richard (Brookfield WI), Spindle probe with orbital transformer.
  16. Carli Carlo,ITX ; Ferrari Andrea,ITX, System for detecting linear dimensions and method for testing the system operability.
  17. Raab Simon (Longwood FL), Three dimensional coordinate measuring apparatus.
  18. Raab Simon (Longwood FL), Three dimensional coordinate measuring apparatus.
  19. Rosenberg Louis B. ; Jackson Bernard G., Three-dimensional cursor control interface with force feedback.

이 특허를 인용한 특허 (2) 인용/피인용 타임라인 분석

  1. Collingwood, David; Fuge, Jonathan Paul; Salt, Geoffrey, Machine tool probe.
  2. Groell, Klaus; Eisenberger, Christian, Probe system and method for operating a probe system.

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