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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | UP-0556198 (2006-11-03) |
등록번호 | US-7538322 (2009-07-01) |
우선권정보 | TW-95132838 A(2006-09-06) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 2 인용 특허 : 8 |
A method of fabricating sample lamella for transmission electron microscopy (TEM) analysis is provided. A waiting-examination sample having an analysis target on the top surface of that is offered, and at least a mark around the analysis target is defined. A covering layer is covered on the top surf
What is claimed is: 1. A method of fabricating sample lamella for transmission electron microscopy (TEM) analysis, comprising: providing a waiting-examination sample having an analysis target on a top surface thereof and at least a mark disposed around the analysis target; forming a covering layer
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