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Apparatus for direct measurement of insulation thermal performance at cryogenic temperatures 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-025/00
  • G01K-017/00
출원번호 UP-0627783 (2007-01-26)
등록번호 US-7540656 (2009-07-01)
발명자 / 주소
  • Stochl, Robert J.
  • Moran, Matthew E.
  • Yeckley, Alexander J.
출원인 / 주소
  • Sierra Lobo, Inc.
대리인 / 주소
    Pearne & Gordon LLP
인용정보 피인용 횟수 : 7  인용 특허 : 2

초록

An apparatus for measuring insulation thermal performance is provided, particularly between ambient and cryogenic temperatures. A warm-temperature boundary has a continuous sample contact surface that is divided into a metered central zone and a boundary guard zone. Each zone is independently heated

대표청구항

What is claimed is: 1. An apparatus to measure insulation thermal performance, comprising a warm-temperature boundary having a continuous thermally-conductive sample contact surface and a cold-temperature boundary, said continuous sample contact surface having a central metered zone and a boundary

이 특허에 인용된 특허 (2)

  1. El-Husayni Hani A., Heat flow meter instruments.
  2. James E. Fesmire ; Stanislaw D. Augustynowicz, Multipurpose thermal insulation test apparatus.

이 특허를 인용한 특허 (7)

  1. Zuñiga Escobar, Orlando, Device for determining thermal conductivity and methods for the use thereof.
  2. Fesmire, James E.; Johnson, Wesley L., Guarded flat plate cryogenic test apparatus and calorimeter.
  3. Fesmire, James E.; Johnson, Wesley L., Guarded flat plate cryogenic test apparatus and calorimeter (C-600).
  4. Fesmire, James E.; Dokos, Adam G., Insulation test cryostat with lift mechanism.
  5. Kwon, Jae Sung; Kim, Hyung Sung; Park, Jong Sung; Jung, Young Sung, Thermal insulation performance measurement apparatus and measurement method using the same.
  6. Waldrop, III, John C.; Perron, Daniel J.; Riegel, Laura Sullivan, Thermal shock apparatus for simulating one-sided operational thermal gradients.
  7. Peijster, Jerry Johannes Martinus, Vacuum chamber with a thick aluminum base plate.
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