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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | UP-0520141 (2003-06-30) |
등록번호 | US-7544249 (2009-07-01) |
우선권정보 | JP-2002-202953(2002-07-11) |
국제출원번호 | PCT/JP03/008312 (2003-06-30) |
§371/§102 date | 20050901 (20050901) |
국제공개번호 | WO04/008506 (2004-01-22) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 0 인용 특허 : 5 |
From the viewpoint of manufacturing an SiC semiconductor device economically, a present Si device manufacturing line is utilized to make it possible to handle a small-diameter SiC wafer. Polycrystal SiC is grown from at least one surface side of a small-diameter a-SiC single crystal wafer so as to b
The invention claimed is: 1. A manufacturing method of a large-diameter SiC wafer comprising the steps of: placing a small diameter α-SiC single crystal wafer on a graphite plate; forming a film of polycrystal SiC around an outer circumference of said wafer by depositing polycrystal SiC over t
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