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Sensor device and testing method utilizing localized plasmon resonance 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G12Q-001/68
  • G01N-001/02
  • G01N-021/55
출원번호 UP-0131433 (2008-06-02)
등록번호 US-7733491 (2010-06-29)
우선권정보 JP-2002-005017(2002-01-11)
발명자 / 주소
  • Kuroda, Ryo
  • Mizutani, Natsuhiko
  • Yamaguchi, Takako
  • Inao, Yasuhisa
  • Yamada, Tomohiro
출원인 / 주소
  • Canon Kabushiki Kaisha
대리인 / 주소
    Fitzpatrick, Cella, Harper & Scinto
인용정보 피인용 횟수 : 11  인용 특허 : 14

초록

A sensor device is formed from a metal film having a plurality of openings, a sensor material positioned within each of the openings, a light source that emits light having a first wavelength, and a light detector that detects light emitted from the light source and transmitted through or reflected

대표청구항

What is claimed is: 1. A sensor device for detecting a target substance based on a change in optical properties of a vicinity of a sensor medium comprising: the sensor medium comprising a substrate, and a metal film having a plurality of slit openings formed on the substrate; a light source unit t

이 특허에 인용된 특허 (14)

  1. Perkins Elaine A,GBX, Analytical apparatus.
  2. Perkins, Elaine A, Analytical apparatus.
  3. Kuroda,Ryo; Mizutani,Natsuhiko; Yamaguchi,Takako; Inao,Yasuhisa; Yamada,Tomohiro, Chemical sensor.
  4. Corn,Robert M.; Smith,Emily A.; Weisblum,Bernard; Erickson,Matthew G.; Ulijasz,Andrew T.; Wanat,Matthew J., Fusion protein arrays on metal substrates for surface plasmon resonance imaging.
  5. Johansen, Knut, Imaging SPR apparatus.
  6. Goh,M. Cynthia; Goh,Jane B.; McAloney,Richard; Loo,Richard, Method and apparatus for assay for multiple analytes.
  7. Ebbesen Thomas W. ; Ghaemi Hadi F. ; Thio Tineke ; Wolff Peter A., Near-field scanning optical microscope having a sub-wavelength aperture array for enhanced light transmission.
  8. Challener William A. ; Ollmann Richard R., Optical assaying method and system having movable sensor with multiple sensing regions.
  9. Challener William A. ; Ollmann Richard R., Optical assaying method and system having rotatable sensor disk with multiple sensing regions.
  10. Vaupel, Matthias, SPR sensor.
  11. Mitsuhiro Negami JP; Muneaki Nakamura JP; Kazuyasu Suzuki JP, SPR sensor cell and immunoassay apparatus using the same.
  12. Challener, William A., Sensor disk having radial grooves and optical assaying method using same.
  13. Ebbesen Thomas W. ; Ghaemi Hadi F. ; Thio Tineke ; Wolff Peter A., Sub-wavelength aperture arrays with enhanced light transmission.
  14. Stark, Peter Randolph Hazard, Surface plasmon enhanced illumination system.

이 특허를 인용한 특허 (11)

  1. Sugimoto, Mamoru; Enari, Megumi, Analysis apparatus and electronic device.
  2. Sugimoto, Mamoru, Analysis device, analysis method, optical element and electronic apparatus for analysis device and analysis method, and method of designing optical element.
  3. Suda, Atsushi; Delaunay, Jean-Jacques; Maeda, Etsuo; Yamada, Ichiro, Hydrogen detecting surface plasmon resonator, surface plasmon resonance optical hydrogen detector and method for optically detecting hydrogen using surface plasmon resonance.
  4. Amako, Jun; Yamada, Kohei; Miyazawa, Tatsunori, Optical device and detection device.
  5. Amako, Jun; Sugimoto, Mamoru; Koike, Hideaki, Optical device with propagating and localized surface plasmons and detection apparatus.
  6. Sugimoto, Mamoru; Amako, Jun; Nishida, Hideaki, Sample analysis device, testing apparatus, and sensor cartridge.
  7. Amako, Jun; Sugimoto, Mamoru; Koike, Hideaki, Sample analysis element and detecting device.
  8. Sugimoto, Mamoru; Amako, Jun; Koike, Hideaki, Sample analysis element and detecting device.
  9. Sugimoto, Mamoru; Amako, Jun; Nishida, Hideaki, Sample analysis element and detection device.
  10. Yamamichi, Junta; Ojima, Tetsunori; Shiotsuka, Hidenori, Substrate of target substance detection element to be used in apparatus for detecting target substance by utilizing surface plasmon resonance and detection element and detection apparatus using same.
  11. Li, Shen-Chun; Liang, Hsien-Chuan; Hsu, Shou-Kuo, System and method for measuring performance of electronic products.
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