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Apparatus and methods relating to spatially light modulated microscopy 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G02B-021/06
출원번호 UP-0194513 (2008-08-19)
등록번호 US-7755832 (2010-08-02)
발명자 / 주소
  • MacAulay, Calum E.
출원인 / 주소
  • Motic China Group Co., Ltd.
대리인 / 주소
    King, Joshua
인용정보 피인용 횟수 : 5  인용 특허 : 30

초록

Apparatus and methods relating to microscopes having specific control of the light that contacts a sample and/or a light detector, such as the eye of the user, a charge couple device or a video camera. The improved control includes enhanced, selective control of the angle of illumination, quantity o

대표청구항

What is claimed is: 1. A microscope that provides a uniform intensity of illumination light to a sample, the microscope comprising a spatial light modulator comprising an illumination array of individual light transmission pixels and disposed in an illumination light path at a conjugate image plane

이 특허에 인용된 특허 (30)

  1. Calum E. MacAulay CA, Apparatus and methods relating to spatially light modulated microscopy.
  2. Neumann Burkhard (Wetzlar DEX), Apparatus for producing an optical image contrast.
  3. Sampas Nicholas M., CCD imager for confocal scanning microscopy.
  4. Favro Lawrence D. (Huntington Woods MI) Thomas Robert L. (Huntington Woods MI) Kuo Pao-Kuang (Troy MI) Chen Li (Detroit MI), Confocal microscope.
  5. Mandella Michael ; Garrett Mark H., Confocal optical scanning system employing a fiber laser.
  6. Corle Timothy R. (Palo Alto CA) Mallory Chester L. (Campbell CA) Wasserman Philip D. (Cupertino CA), Confocal scanning optical microscope.
  7. McCarthy Jon J. (Middleton WI) Fairing John D. (Baldwin MO) Buchholz Jeffrey C. (Cross Plains WI), Confocal tandem scanning reflected light microscope.
  8. Kley Victor B. (1119 Park Hill Rd. Berkeley CA 94708), Electrical illumination and detecting apparatus.
  9. Kley, Victor B., Electronic illumination control.
  10. Fujihara Tadafumi (Tokyo JPX) Shimada Yoshihiro (Tokyo JPX) Nagano Chikara (Tokyo JPX) Tsukamoto Katsuo (Sendai JPX), Illuminating device for microscopes.
  11. Krause Andrew W. ; Liang Minhua ; Stehr Robert L., Light modulated confocal optical instruments and method.
  12. Schalz Karl-Josef,DEX, Lighting device for a microscope.
  13. Morgan Christopher G. (Irlam GBX), Measurement of luminescence.
  14. Honey Richard C. (1801 Parkwood Dr. San Mateo CA 94403) Brown Robert A. (598 Edgecliffe Way Redwood City CA 94062) Nashold Karen M. (198 Andover St. San Francisco CA 94110) Adamo Richard C. (3324 Ver, Method and apparatus for limiting optical radiation intensity at an optical sensor using solid particles oscillating in.
  15. Lichtman Jeffrey W. (St. Louis MO), Method and apparatus for slow aperture scanning in a single aperture confocal scanning EPI-illumination microscope.
  16. Blossey Stefan G.,DEX ; Hausler Gerd,DEX, Method for the non-contact rapid and accurate acquisition of the surface topology of objects.
  17. Endou Itaru,JPX ; Kaneko Yasushi,JPX ; Kawano Yoshihiro,JPX ; Kajitani Kazuo,JPX, Microscope.
  18. Dickensheets David L. ; Kino Gordon S., Miniature scanning confocal microscope.
  19. Derndinger Eberhard (Aalen DEX) Grosskopf Rudolf E. (Konigsbronn DEX) Knupfer Klaus (Essingen DEX), Optical device with an illuminating grid and detector grid arranged confocally to an object.
  20. Tsai Bin-Ming Benjamin ; Pon Russell M., Optical inspection of a specimen using multi-channel responses from the specimen using bright and darkfield detection.
  21. Hakamata Kazuo (Kanagawa JPX), Optical scanning type image pickup apparatus and optical scanning type microscope.
  22. Grow Ann E., Raman optrode processes and devices for detection of chemicals and microorganisms.
  23. Hakamata Kazuo (Kanagawa JPX) Kimura Toshihito (Kanagawa JPX), Scanning microscope and scanning mechanism for the same.
  24. Hakamata Kazuo (Kanagawa JPX), Scanning microscope, scanning width detecting device, and magnification indicating apparatus.
  25. Webb Robert, Scanning ophthalmoscope with spatial light modulators.
  26. Krause Andrew W. (Sparks MD), Spatially light modulated confocal microscope and method.
  27. Neumann Burkhard (Wetzlar DEX), Spectral microscope with a photometer.
  28. Svetkoff Donald J. ; Rohrer Donald K. ; Kelley Robert W., Triangulation-based 3-D imaging and processing method and system.
  29. Delecki Daniel J. (Upper Merion Township ; Montgomery County PA) Saha Ashis K. (Frazer PA) Snow Robert A. (West Chester PA), Unsymmetrical complexing agents and targeting immunoreagents useful in thearpeutic and diagnostic compositions and metho.
  30. Kleinburg Larry (North Hollywood CA) Danley Michael J. (Temple City CA), Variable shutter illumination system for microscope.

이 특허를 인용한 특허 (5)

  1. Betzig, Eric; Ji, Na, Adaptive optics microscopy with phase control of beamlets of a light beam.
  2. Koebler, Douglas J.; Bahnson, Alfred Blalock, Adaptive phase contrast microscope.
  3. Muller, Matthew Stefan, Confocal imaging device using spatially modulated illumination with electronic rolling shutter detection.
  4. Fishbaine, David, Inspection system and method.
  5. Betzig, Eric; Ji, Na, Microscopy with adaptive optics.
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