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Strained-silicon-on-insulator single-and double-gate MOSFET and method for forming the same 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H01L-031/00
출원번호 UP-0460628 (2003-06-13)
등록번호 US-7812340 (2010-11-01)
발명자 / 주소
  • Cohen, Guy Moshe
  • Mooney, Patricia May
출원인 / 주소
  • International Business Machines Corporation
대리인 / 주소
    McGinn IP Law Group PLLC
인용정보 피인용 횟수 : 2  인용 특허 : 7

초록

A method of forming a semiconductor structure (and the resulting structure), includes straining a free-standing semiconductor, and fixing the strained, free-standing semiconductor to a substrate.

대표청구항

The invention claimed is: 1. A semiconductor substrate, comprising: a substrate; a free-standing structure comprising a strained silicon film supported at a single point by a pedestal; a first dielectric film formed on said substrate and on said free-standing structure; and a filling material forme

이 특허에 인용된 특허 (7)

  1. Anderson, Brent A.; Baie, Xavier; Mann, Randy W.; Nowak, Edward J.; Rankin, Jed H., High mobility transistors in SOI and method for forming.
  2. Theodore N. David (Mesa AZ) Lie Donald Y. C. (Pasadena CA) Smith T. C. (Scottsdale AZ) Steele John W. (Chandler AZ), Method for doping strained heterojunction semiconductor devices and structure.
  3. Kawakita Kenji (Hirakata JPX) Nomura Noboru (Kyoto JPX) Takemoto Toyoki (Yawata JPX), Method of manufacturing isolated semiconductor devices.
  4. Lochtefeld,Anthony J.; Langdo,Thomas A.; Hammond,Richard; Currie,Matthew T.; Braithwaite,Glyn; Fitzgerald,Eugene A., Methods of forming strained-semiconductor-on-insulator finFET device structures.
  5. Guckel Henry (Madison WI) Burns David W. (Madison WI), Sealed cavity semiconductor pressure transducers and method of producing the same.
  6. Yeo, Yee-Chia; Chen, How-Yu; Huang, Chien-Chao; Lee, Wen-Chin; Yang, Fu-Liang; Hu, Chenming, Semiconductor-on-insulator chip incorporating strained-channel partially-depleted, fully-depleted, and multiple-gate transistors.
  7. Xiang, Qi, Strained-silicon semiconductor device.

이 특허를 인용한 특허 (2)

  1. Balakrishnan, Karthik; Cheng, Kangguo; Hashemi, Pouya; Reznicek, Alexander, Method for forming a strained semiconductor layer including replacing an etchable material formed under the strained semiconductor layer with a dielectric layer.
  2. Balakrishnan, Karthik; Cheng, Kangguo; Hashemi, Pouya; Reznicek, Alexander, Method of making a semiconductor device having a semiconductor material on a relaxed semiconductor including replacing a strained, selective etchable material, with a low density dielectric in a cavity.
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