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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | UP-0010902 (2008-01-31) |
등록번호 | US-7821320 (2010-11-15) |
우선권정보 | JP-2007-027958(2007-02-07); JP-2007-183211(2007-07-12) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 3 인용 특허 : 10 |
A temperature detection circuit includes a bandgap reference voltage generation circuit, a detection output circuit, and an output conversion circuit. The bandgap reference voltage generation circuit generates a first reference voltage and causes a bias current to flow through a current path to prod
What is claimed is: 1. A temperature detection circuit comprising: a bandgap reference voltage generation circuit for generating a first reference voltage, the bandgap reference voltage generation circuit including a current path to produce a thermal voltage and being configured to cause a bias cur
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