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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0964116 (2007-12-26) |
등록번호 | US7988354 (2011-07-18) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 9 인용 특허 : 16 |
Temperature detection for a semiconductor component is disclosed. One embodiment includes a circuit arrangement for measuring a junction temperature of a semiconductor component that has a gate electrode and a control terminal being connected to the gate electrode and receiving a control signal for
What is claimed is: 1. A circuit arrangement for measuring a junction temperature of a semiconductor component that has a gate electrode and a control terminal being connected to the gate electrode and receiving a control signal for charging and discharging the gate electrode, the gate electrode bei
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