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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0447595 (2007-11-01) |
등록번호 | US7990538 (2011-07-19) |
국제출원번호 | PCT/US2007/083293 (2007-11-01) |
§371/§102 date | 20100208 (20100208) |
국제공개번호 | WO08/057913 (2008-05-15) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 3 인용 특허 : 2 |
The present subject matter relates to methods of high-speed analysis of product samples during production of the product. Light is directed to a portion of a product under analysis and reflected from or transmitted through the product toward optical detectors. Signals from the optical detectors are
What is claimed is: 1. A method for high-speed analysis of product samples during product processing, comprising:providing an illumination source;illuminating with a portion of the light from the illuminating source at least a portion of a product with light at an inspection point;providing first an
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