[특허]Calibration substrate

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[미국특허] Calibration substrate 원문보기

IPC분류정보
국가/구분	United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)	G01R-031/00
출원번호	US-0569584 (2009-09-29)
등록번호	US7994803 (2011-07-27)
발명자 / 주소	Miller, Charles A.
출원인 / 주소	FormFactor, Inc.
대리인 / 주소	Kirton & McConkie
인용정보	피인용 횟수 : 2 인용 특허 : 22

초록

A calibration substrate includes a plurality of input terminals, a detector coupled to the input terminals, and an output terminal. The calibration substrate can be used for calibrating and/or deskewing communications channels.

대표청구항 ▼

The invention claimed is: 1. A calibration substrate for use in calibrating/deskewing drive channels of a machine, said machine having a plurality of first drive channels and a compare channel, said calibration substrate comprising:a plurality of first input terminals disposed to receive input from said plurality of first drive channels;a first buffer, wherein said first input terminals are electrically connected to an input of said first buffer;a first detector configured to receive as input an output of said first buffer; anda first output terminal electrically connected to an output of said first detector and configured to connect electrically with said compare channel.

이 특허에 인용된 특허 (22)

Miller, Charles A.; Hreish, Emad B., Apparatus and method for electromechanical testing and validation of probe cards.
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Miller, Charles A., Cross-correlation timing calibration for wafer-level IC tester interconnect systems.
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Bishop Charles D., Detector with common mode comparator for automatic test equipment.
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Bucksch,Thorsten, Device and a process for the calibration of a semiconductor component test system.
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Nguyen,Huy M.; Gadde,Vijay; Doraiswamy,Sivakumar, Driver calibration methods and circuits.
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Herlein Richard F. (San Jose CA) Sanielevici Sergio A. (Los Altos CA) West Burnell G. (Fremont CA) Cheung David K. (Milpitas CA), Driver circuits for IC tester.
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Pham-Van-Diep Gerald ; Muntz E. Philip ; Watts Hal ; Johnson William ; Main Melvin ; Smith Robert F. ; Orme-Marmarelis Melissa E., High speed jet soldering system.
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Miller,Charles A., Isolation buffers with controlled equal time delays.
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Miller, Charles A., Method and apparatus for calibrating and/or deskewing communications channels.
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Miura, Takeo, Method and apparatus for testing semiconductor devices.
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Ralph G. Whitten ; Benjamin N. Eldridge, Method for testing signal paths between an integrated circuit wafer and a wafer tester.
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Baker Charles D. (Sandy UT) Brimhall Owen D. (South Jordan UT) McLaughlin Thomas J. (Salt Lake City UT), Noncontact hematocrit reader apparatus and method.
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Jamshidi Shahram (Santa Clara CA), Plurality of distinct multiplexers that operate as a single multiplexer.
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Miller Charles A., Salphasic timing calibration system for an integrated circuit tester.
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Craven Tyson S. (Cocoa FL), Self-calibrating voltage standing-wave ratio meter system.
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Miller, Charles A., System for calibrating timing of an integrated circuit wafer tester.
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Miller, Charles A., Tester channel to multiple IC terminals.
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Hiromasa Niwa JP, Timing adjustment method and apparatus for semiconductor IC tester.
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Matthews Anthony, Vibratory rotation sensor with scanning-tunneling-transducer readout.
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Johnson Gregory M., Vibratory sensor with self-calibration and low noise digital conversion.
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Gerrish, Kevin S., Voltage current sensor with high matching directivity.
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Kevin S. Gerrish, Voltage-current sensor with high matching directivity.
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이 특허를 인용한 특허 (2)

Rumiantsev, Andrej; Kanev, Stojan; Schott, Steffen; Stoll, Karsten, Chuck for supporting and retaining a test substrate and a calibration substrate.
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Baeg, Sang Hyeon, Method of testing functioning of a semiconductor device.
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[보고서] GaAs 반도체 재료의 결정 성장 및 특성에 관한 연구

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특허정보
IPC	Description
A	생활필수품
A62	인명구조; 소방(사다리 E06C)
A62B	인명구조용의 기구, 장치 또는 방법(특히 의료용에 사용되는 밸브 A61M 39/00; 특히 물에서 쓰이는 인명구조 장치 또는 방법 B63C 9/00; 잠수장비 B63C 11/00; 특히 항공기에 쓰는 것, 예. 낙하산, 투출좌석 B64D; 특히 광산에서 쓰이는 구조장치 E21F 11/00)
A62B-1/08	.. 윈치 또는 풀리에 제동기구가 있는 것

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