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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0101640 (2008-04-11) |
등록번호 | US8019911 (2011-08-30) |
우선권정보 | DE-2007-0 2007 017 865(2007-04-13) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 12 인용 특허 : 6 |
A system and method for testing and calibrating a control unit including a microcontroller includes an influencing device and an adaptation unit. The adaptation unit includes a memory that can store at least part of a data of a data communication between the influencing device and the control unit.
What is claimed is: 1. A system for testing and calibrating a control unit including a microcontroller, the system comprising:an influencing device; andan adaptation unit disposed between the control unit and the influencing device, the adaptation unit including a memory operable to store at least p
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