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Miniature fluid-cooled heat sink with integral heater 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • F28F-027/00
출원번호 US-0625154 (2009-11-24)
등록번호 US8040145 (2011-10-04)
발명자 / 주소
  • Kabbani, Samer
출원인 / 주소
  • Delta Design, Inc.
대리인 / 주소
    Foley & Lardner LLP
인용정보 피인용 횟수 : 1  인용 특허 : 14

초록

A temperature control device that includes a miniature liquid-cooled heat sink with integral heater and sensing elements is used as part of a system to provide a controlled temperature surface to an electronic device, such as a semiconductor device, during the testing phase. The temperature control

대표청구항

What is claimed is: 1. A temperature control device comprising:an interface surface configured to provide a thermal path to a device under test (“DUT”);a fluid-cooled heat sink structure configured to maintain a cross-flow of coolant in three dimensions for cooling said interface surface, where said

이 특허에 인용된 특허 (14)

  1. Wall, Charles B.; Barnes, Cynthia M., Apparatus and method for controlling the temperature of an electronic device under test.
  2. Abrami Anthony J. (Poughkeepsie) Bullard Stuart H. (Pleasant Valley) del Puerto Santiago E. (Wappingers Falls) Gaschke Paul M. (Pleasantville) LaForce Mark R. (Pleasant Valley) Roggemann Paul J. (Hop, Dry interface thermal chuck temperature control system for semiconductor wafer testing.
  3. Philpott, Michael I.; Shannon, Mark A.; Selby, John C., Flexible microchannel heat exchanger.
  4. Kinsell Robert C. (Los Angeles CA) Saba Michael P. (Huntington Beach CA) Strang James E. (Fountain Valley CA), Fluid conditioning apparatus and system.
  5. Pollock John J. (Waynesboro PA), Heat transfer surface with increased liquid to air evaporative heat exchange.
  6. Burward-Hoy Trevor, Method and apparatus for rapidly varying the operating temperature of a semiconductor device in a testing environment.
  7. Walpole James N. (Concord MA) Missaggia Leo J. (Milford MA), Microchannel heat sink with alternating flow directions.
  8. Martin Peter M. ; Bennett Wendy D. ; Matson Dean W. ; Stewart Donald C. ; Drost Monte K. ; Wegeng Robert S. ; Perez Joseph M. ; Feng Xiangdong ; Liu Jun, Microchannel laminated mass exchanger and method of making.
  9. Yamashita Satoru (Kofu JPX), Probe apparatus.
  10. Lutz, Robert C.; Dickson, Lloyd B.; Eddington, Ralph James, Semiconductor wafer electrical testing with a mobile chiller plate for rapid and precise test temperature control.
  11. Furuya Kunihiro,JPX ; Yonezawa Toshihiro,JPX ; Inoue Ken,JPX ; Nakagomi Yoichi,JPX, Semiconductor wafer holder with spring-mounted temperature measurement apparatus disposed therein.
  12. Moulene, Daniel; Gourdon, Pierre, Temperature conditioning support for small objects such as semi-conductor components and thermal regulation process using said support.
  13. Gaasch, Thomas Francis; Trieu, Thanh, Temperature control device for an electronic component.
  14. Tustaniwskyj Jerry Ihor ; Babcock James Wittman, Temperature control system for an electronic device which achieves a quick response by interposing a heater between the.

이 특허를 인용한 특허 (1)

  1. Hulett, Jeffery Neil, Reconfigurable LED load board clamp.
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