[특허]Method for bin-based control

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Method for bin-based control 원문보기

IPC분류정보
국가/구분	United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)	G06F-007/00
출원번호	US-0427154 (2009-04-21)
등록번호	US8041451 (2011-10-05)
발명자 / 주소	Wu, Sunny Shih, Chih-Sheng Tsen, Andy Wang, Jo Fei Mou, Jong-I Kuan, Hsin
출원인 / 주소	Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd.
대리인 / 주소	Haynes and Boone, LLP
인용정보	피인용 횟수 : 3 인용 특허 : 11

초록 ▼

A method for providing bin-based control when manufacturing integrated circuit devices is disclosed. The method comprises performing a plurality of processes on a plurality of wafer lots; determining a required bin quantity, an actual bin quantity, and a projected bin quantity; comparing the determined required bin quantity with the determined actual bin quantity and determined projected bin quantity; and modifying at least one of the plurality of processes on the plurality of wafer lots if the determined actual bin quantity and determined projected bin quantity fail to satisfy the determined required bin quantity.

대표청구항 ▼

What is claimed is: 1. A method for providing bin-based control when manufacturing integrated circuit devices, wherein a bin is associated with one or more characteristics exhibited by an integrated circuit device, the method comprising:performing a plurality of processes on a plurality of wafer lots;determining a required bin quantity, an actual bin quantity, and a projected bin quantity;comparing the determined required bin quantity with the determined actual bin quantity and determined projected bin quantity; andmodifying at least one of the plurality of processes on the plurality of wafer lots if the determined actual bin quantity and determined projected bin quantity fail to satisfy the determined required bin quantity.

이 특허에 인용된 특허 (11)

Cheong Kwang Yung,KRX ; Lee Ann Seong,KRX ; Kim Jae Young,KRX, Control system and method for semiconductor integrated circuit test process.
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Cheong Kwang Yung,KRX ; Lee Ann Seong,KRX ; Kim Jae Young,KRX, Control system for semiconductor integrated circuit test process.
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Costanza, John R., Material and inventory control system for a demand flow process.
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Greatline Martin W. ; Greatline Stanley E., Method and apparatus for prescription application of products to an agricultural field.
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Bloom, Gregg, Method and system for efficient package delivery and storage.
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Mountz, Michael C.; Wurman, Peter R., Method and system for replenishing inventory items.
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Morenz,Robert G.; Sitarski,Edward, Method for optimizing a supply-consumption operation.
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Lloyd, Jr., Harry J.; Huggins, Hoyt W.; Lyon, Michael R.; Thayer, David N.; McGovney, William E., Order filling system.
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Baker, Steven; Yacobozzi, Alan; Porczak, Helena; Reasoner, Catalina, System and method for managing returnable containers.
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Wichter Martin A. (Arlington TX) Pohrte Tom R. (The Colony TX) Ross Jack A. (The Colony TX) Sadler Ray G. (Plano TX), System for managing multiple dispensing units and method of operation.
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Jorgenson, William L.; Brogger, Mark, Transactional supply chain system and method.
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이 특허를 인용한 특허 (3)

Ziegler, Melanie; Barbour, Russell G.; Earl, Matt, Automated storage and retrieval system and control system thereof.
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Ziegler, Melanie; Barbour, Russell G.; Earl, Matt, Automated storage and retrieval system and control system thereof.
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Zafar, Khurram; Hu, Chenmin; Chen, Ye; Ma, Yue; Hsiang, Chingyun; Chen, Justin; Xu, Raymond; Vikram, Abhishek; Zhang, Ping, Pattern weakness and strength detection and tracking during a semiconductor device fabrication process.
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관련 콘텐츠

특허 원문 보기

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IPC 상위 출원인

특허정보
IPC	Description
A	생활필수품
A62	인명구조; 소방(사다리 E06C)
A62B	인명구조용의 기구, 장치 또는 방법(특히 의료용에 사용되는 밸브 A61M 39/00; 특히 물에서 쓰이는 인명구조 장치 또는 방법 B63C 9/00; 잠수장비 B63C 11/00; 특히 항공기에 쓰는 것, 예. 낙하산, 투출좌석 B64D; 특히 광산에서 쓰이는 구조장치 E21F 11/00)
A62B-1/08	.. 윈치 또는 풀리에 제동기구가 있는 것

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구성항목	기본정보 상세정보 관리번호, 국가코드, 자료구분, 상태, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 등록번호, 등록일자, 발명명칭(한글), 발명명칭(영문), 출원인(한글), 출원인(영문), 출원인코드, 대표IPC 관리번호, 국가코드, 자료구분, 상태, 출원번호, 출원일자, 공개번호, 공개일자, 공고번호, 공고일자, 등록번호, 등록일자, 발명명칭(한글), 발명명칭(영문), 출원인(한글), 출원인(영문), 출원인코드, 대표출원인, 출원인국적, 출원인주소, 발명자, 발명자E, 발명자코드, 발명자주소, 발명자 우편번호, 발명자국적, 대표IPC, IPC코드, 요약, 미국특허분류, 대리인주소, 대리인코드, 대리인(한글), 대리인(영문), 국제공개일자, 국제공개번호, 국제출원일자, 국제출원번호, 우선권, 우선권주장일, 우선권국가, 우선권출원번호, 원출원일자, 원출원번호, 지정국, Citing Patents, Cited Patents
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