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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0754709 (2010-04-06) |
등록번호 | US8066185 (2011-11-16) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 1 인용 특허 : 26 |
A diagnostic system for an oven chamber, an oven system, and a method of wirelessly monitoring item temperature in an oven chamber are disclosed. In some embodiments, a temperature sensor used for sensing the temperature of an item is moved or transported with the item by a conveyor system. Also, in
What is claimed is: 1. A method of wirelessly monitoring the temperature of an item through an item treatment process that includes heating the item in an oven chamber through which the item is conveyed, the method comprising:providing a temperature sensor;providing a transmitter coupled to the temp
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