$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

[미국특허] Method and apparatus for the determination of the 3D coordinates of an object 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01B-011/24
출원번호 US-0383519 (2009-03-25)
등록번호 US-8094322 (2012-01-10)
우선권정보 DE-10 2008 015 499 (2008-03-25)
발명자 / 주소
  • Mayer, Thomas
  • Steinbichler, Marcus
  • Frey, Alexander
출원인 / 주소
  • Steinbichler Optotechnik GmbH
대리인 / 주소
    Dilworth & Barrese, LLP.
인용정보 피인용 횟수 : 2  인용 특허 : 13

초록

In a method for the determination of the 3D coordinates of an object (2), a pattern is projected (1) onto the object (2) and the pattern reflected by the object (2) is taken (3) and evaluated. To improve such a method, a pattern is projected onto a first part region (12) of the object (2) in a first

대표청구항

1. A method for the determination of the 3D coordinates of an object (2) in which a pattern is projected (1) onto the object (2) and the pattern reflected by the object (2) is taken (3) and evaluated, comprising: dividing by an evaluation device the object into part regions based upon surface normal

이 특허에 인용된 특허 (13) 인용/피인용 타임라인 분석

  1. Ross Joseph (Fort Salonga NY) Schmidt Richard (Huntington NY), Arrangement for the expansion of the dynamic range of optical devices.
  2. Brash, Robert Alan D.; Tanner, Timothy, Body scanning equipment.
  3. Fujita,Hiroo, Grating pattern projection apparatus using liquid crystal grating.
  4. Quadling,Mark; Quadling,Henley, High speed multiple line three-dimensional digitalization.
  5. Suzuki,Tatsuhiko, Measuring technology and computer numerical control technology.
  6. Hof Albrecht (Aalen DEX) Hanssen Adalbert (Konigsbronn DEX), Method and apparatus for three-dimensional optical measurement of object surfaces.
  7. DiMatteo Paul (Huntington NY) Ross Joseph (Fort Salonga NY), Method for locating points on a three-dimensional surface using light intensity variations.
  8. Hecker Joel (Port Jefferson Station NY) Rongo Robert (Kings Park NY), Method for optical alignment of one object with respect to another.
  9. Huber Edward D. (Sunnyvale CA) Williams Rick A. (Orinda CA) Shough Dean M. (Newark CA) Kwon Osuk Y. (Seoul KRX) Welling Rebecca L. (La Honda CA), Method of calibrating a three-dimensional optical measurement system.
  10. Keller, Kurtis P.; Ackerman, Jeremy D.; Rosenthal, Michael H.; Fuchs, Henry; State, Andrei, Methods and systems for real-time structured light depth extraction and endoscope using real-time structured light depth extraction.
  11. Grindon John R. (St. Louis MO), Optical means for making measurements of surface contours.
  12. Tamura Poohsan N. (Murrysville PA), Optical three-dimensional digital data acquisition system.
  13. Bieman Leonard H. (Farmington Hills MI) Michniewicz Mark A. (Milford MI), System for optically measuring the surface contour of a part using more fringe techniques.

이 특허를 인용한 특허 (2) 인용/피인용 타임라인 분석

  1. Zeien, Robert, Full-field three-dimensional surface measurement.
  2. Sato, Jun; Sakaue, Fumihiko; Inagaki, Masahiko, Three-dimensional information presentation device.

활용도 분석정보

상세보기
다운로드
내보내기

활용도 Top5 특허

해당 특허가 속한 카테고리에서 활용도가 높은 상위 5개 콘텐츠를 보여줍니다.
더보기 버튼을 클릭하시면 더 많은 관련자료를 살펴볼 수 있습니다.

섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로