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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0383519 (2009-03-25) |
등록번호 | US-8094322 (2012-01-10) |
우선권정보 | DE-10 2008 015 499 (2008-03-25) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 2 인용 특허 : 13 |
In a method for the determination of the 3D coordinates of an object (2), a pattern is projected (1) onto the object (2) and the pattern reflected by the object (2) is taken (3) and evaluated. To improve such a method, a pattern is projected onto a first part region (12) of the object (2) in a first
1. A method for the determination of the 3D coordinates of an object (2) in which a pattern is projected (1) onto the object (2) and the pattern reflected by the object (2) is taken (3) and evaluated, comprising: dividing by an evaluation device the object into part regions based upon surface normal
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