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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0382919 (2009-03-26) |
등록번호 | US-8153989 (2012-04-10) |
우선권정보 | JP-P2008-087123 (2008-03-28) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 14 인용 특허 : 6 |
The present invention provides a charged particle beam irradiating apparatus capable of simply preventing unevenness or reduction in a peripheral portion of the dose distribution of a charged particle beam. A charged particle beam irradiating apparatus includes scanning electromagnets that scan a ch
1. A charged particle beam irradiating apparatus for continuously irradiating a charged particle beam along an irradiation line in an irradiation field that is set in an object, comprising: a scanning electromagnet that scans the charged particle beam; anda control unit that controls an operation of
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