$\require{mediawiki-texvc}$
  • 검색어에 아래의 연산자를 사용하시면 더 정확한 검색결과를 얻을 수 있습니다.
  • 검색연산자
검색도움말
검색연산자 기능 검색시 예
() 우선순위가 가장 높은 연산자 예1) (나노 (기계 | machine))
공백 두 개의 검색어(식)을 모두 포함하고 있는 문서 검색 예1) (나노 기계)
예2) 나노 장영실
| 두 개의 검색어(식) 중 하나 이상 포함하고 있는 문서 검색 예1) (줄기세포 | 면역)
예2) 줄기세포 | 장영실
! NOT 이후에 있는 검색어가 포함된 문서는 제외 예1) (황금 !백금)
예2) !image
* 검색어의 *란에 0개 이상의 임의의 문자가 포함된 문서 검색 예) semi*
"" 따옴표 내의 구문과 완전히 일치하는 문서만 검색 예) "Transform and Quantization"

통합검색

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

특허 상세정보

Clamp for controlling current discharge

특허상세정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판) H02H-009/00   
미국특허분류(USC) 361/056;
출원번호 US-0504957 (2009-07-17)
등록번호 US-8189309 (2012-05-29)
발명자 / 주소
출원인 / 주소
대리인 / 주소
    Patti, John J.
인용정보 피인용 횟수 : 2  인용 특허 : 13
초록

In many applications, particularly in automotive applications, integrated circuits (IC) are designed to withstand large fly-back currents from inductive loads. As these ICs have become smaller, the switching transistors (which are coupled to the inductive loads) have remained relatively large so as to withstand the fly-back currents. The size of these switching transistors has become a limiting factor in designing compact ICs. Here, an IC is provided with an adaptive clamp that allows for a significant reduction in the area of a switching transistor for ...

대표
청구항

1. An apparatus comprising: a first terminal;a second terminal;a first transistor having a first passive electrode, a second passive electrode, and a control electrode, wherein the first passive electrode of the first transistor is coupled to the second terminal;a first resistive element that is coupled to the second terminal;a first diode stack that is coupled to the first resistive element, wherein the first diode stack has a first breakdown voltage;a second diode stack that is coupled between the first diode stack and the control electrode of the firs...

이 특허에 인용된 특허 (13)

  1. Bator Philip M. (Farmington MI) Eccleston Rex J. (Karben DEX) Rutkowski David J. (Grosse Ile MI). Active clamp circuit with immunity to zener diode microplasmic noise. USP1991035001373.
  2. Arell, Thomas William; Liwinski, Henry; Lott, Joel Morison; Lopez, Osvaldo J.. Active clamping circuit for power amplifiers. USP2003066580321.
  3. Raets Hubert C. (Nieuwenhagen NLX). Circuit for switching current in an inductive load. USP1987094695770.
  4. Lavieville Jean-Paul,FRX ; Muller Didier,FRX. Control circuit for an electronic switch, and a switch constituting an application thereof. USP1998065764088.
  5. Steigerwald Robert L. (Scotia NY). Driver circuits for emitter switch gate turn-off SCR devices. USP1986044581542.
  6. Disney Donald Ray ; Shreve John Robert. Electrical load driving device including load current limiting circuitry. USP1998035723916.
  7. Miller James W. ; Khazhinsky Michael G. ; Hall Geoffrey B. ; Camarena Jose A. ; Chan Joseph ; Takeda Fujio. Electrostatic discharge circuit. USP2001126327126.
  8. Cooper Chris ; Frank Katherine ; Baldwin David. High current drain-to-gate clamp/gate-to-source clamp for external power MOS transistors. USP2000066078204.
  9. Hastings, Roy Alan. Low-current compliance stack using nondeterministically biased Zener strings. USP2003096617906.
  10. Preslar Donald Ray. Network for improving electro-magnetic interference response. USP1999075920224.
  11. Teggatz Ross E. ; Devore Joseph A. ; Buss Kenneth G. ; Schmidt Thomas A. ; Efland Taylor R. ; Kwan Stephen C.. Optimized power output clamping structure. USP1998095812006.
  12. Preslar Donald Ray. Optimum placement of bypass capacitors in a network for improving electro-magnetic interference response. USP2000076091274.
  13. Krakauer David B. (Cambridge MA) Mistry Kaizad (Lincoln MA) Butler Steven (Marlboro MA) Partovi Hamid (Sunnyvale CA). Self-referencing modulation circuit for CMOS integrated circuit electrostatic discharge protection clamps. USP1997045617283.