$\require{mediawiki-texvc}$
  • 검색어에 아래의 연산자를 사용하시면 더 정확한 검색결과를 얻을 수 있습니다.
  • 검색연산자
검색도움말
검색연산자 기능 검색시 예
() 우선순위가 가장 높은 연산자 예1) (나노 (기계 | machine))
공백 두 개의 검색어(식)을 모두 포함하고 있는 문서 검색 예1) (나노 기계)
예2) 나노 장영실
| 두 개의 검색어(식) 중 하나 이상 포함하고 있는 문서 검색 예1) (줄기세포 | 면역)
예2) 줄기세포 | 장영실
! NOT 이후에 있는 검색어가 포함된 문서는 제외 예1) (황금 !백금)
예2) !image
* 검색어의 *란에 0개 이상의 임의의 문자가 포함된 문서 검색 예) semi*
"" 따옴표 내의 구문과 완전히 일치하는 문서만 검색 예) "Transform and Quantization"

통합검색

도움말도움말
상세검색 다국어 입력

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

특허 상세정보

MyON담기
내보내기 페이스북 공유 카카오톡 공유

Apparatus and method for processing data of flash memory

특허상세정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판) G06F-012/00   
미국특허분류(USC) 711/103; 711/E12.016; 714/766; 714/722; 714/746; 714/753; 714/768; 714/773; 714/758; 714/E11.004; 714/E11.055; 714/E11.098
출원번호 US-0188997 (2011-07-22)
등록번호 US-8230166 (2012-07-24)
우선권정보 KR-10-2004-0095286 (2004-11-19)
발명자 / 주소
  • Kim, Jin-kyu
  • Kim, Min-young
  • Yoon, Song-ho
출원인 / 주소
  • Samsung Electronics Co., Ltd.
대리인 / 주소
    Sughrue Mion, PLLC
인용정보 피인용 횟수 : 0  인용 특허 : 12
초록

An memory device including a data region storing a main data, a first index region storing a count data, and a second index region storing an inverted count data, where the data region, the first index region, and the second index region are included in one logical address.

대표
청구항
▼

1. A nonvolatile memory device comprising: a data region storing a main data;a first index region storing a count data;a second index region storing an inverted count data; anda control unit that compares the count data to an inverse of the inverted count data and determines that the count data is valid if the inverse of the inverted count data is equal to the count data,wherein the count data and the inverted count data are written to a location of the nonvolatile memory device corresponding to one logical address at a same time when a data operation is...

인용문헌 (12)

  1. Kelley, Edward E.; Motika, Eric M.; Motika, Franco; Motika, Paul V., CDROM copy protection.
  2. Sharma, Debendra Das, ECC code mechanism to detect wire stuck-at faults.
  3. Sakamoto Yasuhiko (Fujisawa JPX), Faulty-memory processing method and apparatus.
  4. Sang-Wook Han KR, Flash memory array access method and device.
  5. Mason Colin,JPX ; Shinohara Takayuki,JPX, Information storage medium and security method thereof.
  6. Bruce William (Lunenburg MA) Smelser Donald W. (Bolton MA), Memory testing system.
  7. Hasbun Robert N. ; Leemann Daniel H., Method and apparatus for error management in a solid state disk drive using primary and secondary logical sector number.
  8. Wells Steven E. ; Magnusson Eric J. ; Hasbun Robert N., Method of managing defects in flash disk memories.
  9. Xing Dongsheng, Non-volatile memory array having an index used in programming and erasing.
  10. Cappelletti Paolo,ITX ; Maurelli Alfonso,ITX ; Olivo Marco,ITX, Self-test and correction of loss of charge errors in a flash memory, erasable and programmable by sectors thereof.
  11. Bruce Ricardo H. ; Bruce Rolando H. ; Cohen Earl T. ; Christie Allan J., Unified re-map and cache-index table with dual write-counters for wear-leveling of non-volatile flash RAM mass storage.
  12. White Steven W. ; McWilliams G. Jeanette ; Kemp Jack Wayne, Virtual memory mapping method and system for address translation mapping of logical memory partitions for BAT and TLB en.

IPC 상위 출원인