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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0283949 (2008-09-16) |
등록번호 | US-8294482 (2012-10-23) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 1 인용 특허 : 3 |
Systems and methods for testing a peripheral in accordance with a high-speed serial interface protocol are provided. A test system can test a peripheral by providing user-specified control over a test processor (which is substantially the same processor the peripheral will interface with when instal
1. A system for testing a peripheral, comprising: a test computer; anda test module comprising: a test processor electrically coupled to a test computer interface and a peripheral interface, the test processor operative to communicate with the peripheral according to a high-speed serial interface pr
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