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Chemical mechanical polishing apparatus 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • B24B-009/00
출원번호 US-0700159 (2010-02-04)
등록번호 US-8313359 (2012-11-20)
우선권정보 JP-2009-024877 (2009-02-05)
발명자 / 주소
  • Saito, Toshiya
출원인 / 주소
  • Elpida Memory, Inc.
대리인 / 주소
    Young & Thompson
인용정보 피인용 횟수 : 0  인용 특허 : 20

초록

A chemical mechanical polishing apparatus includes a container, a platen, first and second brushes, a polishing pad, a carrier, and a slurry supplier. The container has a bottom wall and a side wall. The side wall has an inwardly-extending upper portion. The platen is supported over the bottom wall.

대표청구항

1. A chemical mechanical polishing apparatus comprising: a container having a bottom wall and a side wall, the side wall having an inwardly-extending upper portion; anda platen supported over the bottom wall,the side wall has a middle portion positioned at substantially the same level as the platen,

이 특허에 인용된 특허 (20)

  1. John Skrovan, Apparatus and methods for conditioning polishing pads in mechanical and/or chemical-mechanical planarization of microelectronic device substrate assemblies.
  2. Michael A. Walker, CMP polishing pad with hydrophilic surfaces for enhanced wetting.
  3. Wada Yutaka,JPX ; Hiyama Hirokuni,JPX ; Kimura Norio,JPX, Cleaning method and polishing apparatus employing such cleaning method.
  4. Kennedy Daniel ; Fuksshimov Boris ; Belitsky Victor ; Fishkin Boris ; Brown Kyle ; Osterheld Tom ; Beeler Jeff ; Addiego Ginetto, Combined slurry dispenser and rinse arm and method of operation.
  5. Gach Paul (1224 Woodbridge St. Clair Shores MI 48080), Coolant supply apparatus for a grinding tool.
  6. Suzuki Toshinaru,JPX, Dresser and dressing apparatus.
  7. Halley, David G., Feature height measurement during CMP.
  8. Gibson ; Jr. William H. (c/o Ms. Connie Ferguson ; Rte. 1 ; Box 47C Oakhill WV 25901), Flexed resilient belt wiper blade for wiping clinging material from the surface of moving conveyor belts.
  9. David G. Halley, Method and apparatus for chemical mechanical polishing.
  10. Edwards Eugene R. (Redondo Beach CA), Method and apparatus for cleaning conveyor belts, with inclined flexible fingers.
  11. Newell E. Chiesl, III ; Gregory L. Burns ; Theodore C. Moore, Method and apparatus for detecting presence of residual polishing slurry subsequent to polishing of a semiconductor wafer.
  12. Duboust, Alain; Chang, Shou-Sung; Chen, Liang-Yuh; Wang, Yan; Neo, Siew; Sun, Lizhong; Liu, Feng Q., Method and apparatus for face-up substrate polishing.
  13. Hashimoto Shin,JPX ; Miyoshi Yuichi,JPX, Method of polishing semiconductor wafer.
  14. Halley David G., Pad quick release device for chemical mechanical polishing.
  15. Hirose Masayoshi (Tokyo JPX) Ishikawa Seiji (Tokyo JPX) Kimura Norio (Tokyo JPX) Kawashima Kiyotaka (Tokyo JPX) Ishii You (Tokyo JPX), Polishing apparatus.
  16. Monsour Moinpour ; Ilan Berman ; Young C. Park, Rotating belt wafer edge cleaning apparatus.
  17. Colescott Willis G. (Kokomo IN), Self-cleaning optical disc system.
  18. Jang Dong-Heui,KRX ; Kim Dong-Hyun,KRX ; Kim Choung-Hee,KRX ; Jang Se-Yeon,KRX, Semiconductor wafer cleaning apparatus.
  19. Miller Gabriel L. (Westfield NJ) Wagner Eric R. (South Plainfield NJ), Slurry polisher using ultrasonic agitation.
  20. Terada, Shouichi; Mizuno, Tsuyoshi; Uehara, Takeshi, Substrate processing method and program.
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