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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0738882 (2003-12-17) |
등록번호 | US-8315834 (2012-11-20) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 4 인용 특허 : 29 |
Embodiments of the invention relate to a system and a method for measuring the thickness of a coating applied to a substrate or component. Embodiments of the invention relate to measuring the distance between a surface of a component, both before and after the surface is covered with a coating mater
1. A method for measuring the thickness of a coating on a component comprising the steps of: providing a component having a first surface;measuring one or more surface distances between an optical measurement device and at least one surface target point on the first surface;applying a coating on at
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