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Device for collecting and separating particles and microorganisms present in ambient air 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01F-001/34
출원번호 US-0377321 (2007-08-30)
등록번호 US-8356524 (2013-01-22)
우선권정보 FR-06 07729 (2006-09-04)
국제출원번호 PCT/FR2007/001414 (2007-08-30)
§371/§102 date 20090603 (20090603)
국제공개번호 WO2008/029014 (2008-03-13)
발명자 / 주소
  • Verdier, Amandine
  • Sorel, Emmanuelle
  • Vallayer, Bruno
  • Rebuffat, Denis
출원인 / 주소
  • Bertin Technologies
인용정보 피인용 횟수 : 0  인용 특허 : 20

초록

A device for collecting and separating particles and microorganisms present in ambient air, the device comprising suction means for sucking air into a removable centrifuging chamber (10) having an air inlet and outlet and forming a receptacle for transporting a liquid sample containing the collected

대표청구항

1. A device for collecting and separating particles and microorganisms present in ambient air, the device comprising: an air inlet and outlet element;a plurality of removable centrifuging enclosures, wherein each individual enclosure of said plurality of enclosures has a different diameter and is co

이 특허에 인용된 특허 (20)

  1. Rhodes John R. (Austin TX) Sieberg Robert D. (Austin TX) Taylor Morris C. (Austin TX) Westkaemper John C. (Austin TX) Young Robert C. (Idaho Falls ID), Aerial prospecting.
  2. Kiplinger Dale V. (Carrollton TX), Air sampler.
  3. Squirrell, David James; Symonds, William Hunter; Bird, Hilary Anne; Berry, Martin John, Air samplers.
  4. Berger Josef (Los Altos CA), Apparatus for collection of particulate matter from an ambient gas.
  5. Park Sang-o,KRX ; Kim Jin-sung,KRX ; Kang Hee-se,KRX ; Moon Sang-young,KRX, Apparatus for measuring contamination particles during the manufacture of semiconductor devices.
  6. Vallayer,Bruno; Trouchet,Daniel; Verdier,Amandine; Sorel,Emmanuelle, Device for collecting and separating particles and microorganisms present in ambient air.
  7. Ryan,Scott, Gas-borne matter collection device.
  8. Sioutas,Constantinos, Impactor inlet.
  9. Bryden,Wayne A.; Scholl,Peter F.; Carlson,Micah A.; McLoughlin,Michael P., Method and apparatus for enhanced particle collection efficiency.
  10. Gay Don D. (Aiken SC) McMillan William G. (Ulmers SC), Method for sampling sub-micron particles.
  11. Chevalier Philippe,FRX, Microbiological pressurised gas control device.
  12. Marple Virgil A. (Minneapolis MN), Multiple nozzle single stage impactor.
  13. Jordan, Sr., John L.; Jordan, Jr., John L., Particle collection apparatus and method.
  14. Jordan, Sr., John L.; Jordan, Jr., John L., Particle collection apparatus and method.
  15. Plamondon, Thomas D.; Rolshud, Nikolay; Cram, Peter F.; Fraser, Mark, Particle concentrator.
  16. Solomon,Paul A.; Sioutas,Constantinos, Particle matter sampling method and sampler with a virtual impactor particle concentrator.
  17. Gupta Rajendra P.,CAX ITX K1J 8X4, Reverse centrifugal filter.
  18. Willeke Klaus ; Lin Xuejun ; Grinshpun Sergey, Swirling aerosol collector.
  19. Raabe Otto G. (Davis CA) Teague Stephen V. (Davis CA), Universal inlet for airborne-particle size-selective sampling.
  20. Bradley, Bruce J., Vacuum air component sampler.
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