$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

Susceptor ring 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • C23C-016/00
  • C23C-016/50
  • C23F-001/00
  • H01L-021/306
출원번호 US-0187933 (2008-08-07)
등록번호 US-8394229 (2013-03-12)
발명자 / 주소
  • Aggarwal, Ravinder
  • Haro, Bob
출원인 / 주소
  • ASM America, Inc.
대리인 / 주소
    Knobbe, Martens, Olson & Bear LLP
인용정보 피인용 횟수 : 0  인용 특허 : 12

초록

A one-piece susceptor ring for housing at least one temperature measuring device is provided. The susceptor ring includes a plate having an aperture formed therethrough and a pair of side ribs integrally connected to a lower surface of the plate. The side ribs are located on opposing sides of the ap

대표청구항

1. A one-piece susceptor ring for use in a semiconductor processing tool comprising: a plate having an aperture formed therethrough;a first side rib, a second side rib, and a center rib extending from a lower surface of said plate, wherein said center rib is located between said first side rib and s

이 특허에 인용된 특허 (12)

  1. Kimura Norifumi,JPX, Cap for use in a semiconductor wafer heat processing apparatus.
  2. Sinha Ashok K. (Palo Alto CA) Ghanayem Steve G. (Sunnyvale CA) Rana Virendra V. S. (Los Gatos CA), Deposition apparatus using a perforated pumping plate.
  3. Takahashi, Syuichi; Sasaki, Yasuharu, Exhaust ring for manufacturing semiconductors.
  4. Ikeda Fumihide,JPX ; Machida Junichi,JPX ; Tomita Masayuki,JPX ; Inokuchi Yasuhiro,JPX ; Shimeno Kazuhiro,JPX ; Nomura Hisashi,JPX ; Inada Tetsuaki,JPX, Heat treatment of semiconductor wafers where upper heater directly heats upper wafer in its entirety and lower heater di.
  5. Peck Kevin B. (Soulsbyville CA) Erickson Ronald E. (Jamestown CA) Matthews Stephen H. (Sonora CA), High performance horizontal diffusion furnace system.
  6. Wengert John F. ; Raaijmakers Ivo ; Halpin Mike ; Jacobs Loren ; Meyer Michael J. ; van Bilsen Frank ; Goodman Matt ; Barrett Eric ; Wood Eric ; Samuels Blake, Long life high temperature process chamber.
  7. Shrotriya Ashish ; Bryant Todd C., Method and apparatus for directing fluid through a semiconductor processing chamber.
  8. Lee Hsing-Chung (Woodland Hills CA), Method of improving layer uniformity in a CVD reactor.
  9. Wengert John F. ; Jacobs Loren R. ; Halpin Michael W. ; Foster Derrick W. ; van der Jeugd Cornelius A. ; Vyne Robert M. ; Hawkins Mark R., Process chamber with inner support.
  10. Halpin, Michael W.; Foster, Derrick W., Process chamber with rectangular temperature compensation ring.
  11. Cogley,Paul Andrew; Romeo,Derek Joseph; Brooks,Joseph R., Susceptor ring.
  12. Michael W. Halpin ; Mark R. Hawkins ; Derrick W. Foster ; Robert M. Vyne ; John F. Wengert ; Cornelius A. van der Jeugd ; Loren R. Jacobs ; Frank B. M. Van Bilsen ; Matthew Goodman ; Hartman, Wafer support system.
섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로