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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0965159 (2010-12-10) |
등록번호 | US-8396187 (2013-03-12) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 8 인용 특허 : 36 |
The different advantageous embodiments provide an apparatus and a method for inspecting a surface of a work piece. In one advantageous embodiment, an apparatus comprising a number of tracks, a support structure, connection system, and controller is disclosed. The number of tracks are configured for
1. An apparatus comprising: a number of tracks configured for placement along a path;a support structure configured to move on the number of tracks;an X-ray system moveably connected to the support structure, wherein the X-ray system is configured to send a plurality of X-rays toward a work piece an
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