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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0485686 (2012-05-31) |
등록번호 | US-8492718 (2013-07-23) |
우선권정보 | JP-2007-021660 (2007-01-31) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 1 인용 특허 : 9 |
There is provided a measuring apparatus including a space arrangement structure that includes space regions surrounded by conductors in a plane, an electromagnetic wave emitter that emits electromagnetic waves towards an object held by the space arrangement structure, and an electromagnetic wave det
1. A measuring apparatus for measuring characteristics of an object, the measuring apparatus comprising: a space arrangement structure that includes space regions surrounded by conductors in a plane;an electromagnetic wave emitter that emits electromagnetic waves towards an object held by the space
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