$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

Heating device for testing integrated components 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H05B-001/00
출원번호 US-0671682 (2007-02-06)
등록번호 US-8642925 (2014-02-04)
우선권정보 DE-10 2006 005 319 (2006-02-06)
발명자 / 주소
  • Keller, Robert
출원인 / 주소
  • Infineon Technologies AG
대리인 / 주소
    Dicke, Billig & Czaja, PLLC
인용정보 피인용 횟수 : 0  인용 특허 : 17

초록

A heating device for testing integrated components is disclosed. In one embodiment, an inner casing is arranged in the heating device surrounding a holding chamber. The inner casing contains at least one recess in which an electrically conductive contact device is moveably arranged. This permits con

대표청구항

1. A heating device for testing integrated components, comprising: an inner casing arranged in the heating device, the inner casing surrounding a holding chamber configured to receive an integrated component for testing;a heating element arrangement which is arranged in the heating device external t

이 특허에 인용된 특허 (17)

  1. Yamashita, Tsuyoshi; Igarashi, Noriyuki, Apparatus for handling electronic components and method for controlling temperature of electronic components.
  2. Kazama Toshio,JPX, Contact probe unit.
  3. Tsuyoshi Yamashita JP; Yoshihito Kobayashi JP; Toshiyuki Kiyokawa JP; Hiroto Nakamura JP; Noriyuki Igarashi JP; Kenichi Shimada JP, Electric device testing apparatus.
  4. Takahashi Hiroyuki,JPX ; Kojima Akio,JPX ; Kiyokawa Toshiyuki,JPX, IC chip tester with heating element for preventing condensation.
  5. Kiyokawa Toshiyuki (Kitakatsushika JPX) Hayama Hisao (Gyoda JPX), IC test equipment.
  6. Yeh, Cheng-Huang, IC tester for preventing damage from electrostatic discharge and operation method thereof.
  7. Kim, Yoon-Min; Kim, Ki-Yeul; Cha, Jae-Hoon, Integrated circuit test system and method.
  8. Charlton Richard G. (Essex Junction VT) Correia George C. (Essex Junction VT) Couture Mark A. (Milton VT) Hill Gary R. (Jerico VT) Horsford Kibby B. (Charlotte VT) Ingraham Anthony P. (Endicott NY) L, Method and apparatus for testing integrated circuit chips.
  9. Viswanath Ram S. ; Martin Philip R., Pickup chuck with an integral heatsink.
  10. Hayama Hisao,JPX ; Goto Toshio,JPX ; Kanno Yukio,JPX, Semiconductor device testing apparatus.
  11. Kanno Yukio,JPX ; Goto Toshio,JPX, Semiconductor device testing apparatus.
  12. Hamilton Harold E., Temperature control for high power burn-in for integrated circuits.
  13. Hamilton Harold E. ; Tremmel Tom A., Temperature controlled high power burn-in board heat sinks.
  14. Udo Wenning DE; Jurgen Hirath DE; Hans-Frieder Eberhardt DE; Ulrich Wolf DE, Thermally insulating housing.
  15. Liken Peter A. (West Olive MI) Ensing Steven B. (Wyoming MI), Through-port load carrier and related test apparatus.
  16. Budnaitis John J., Wafer level burn-in base unit substrate and assembly.
  17. Budnaitis John J., Wafer level contact sheet and method of assembly.
섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로