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Air wipe and sheet guide temperature control on paper and continuous web scanners 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G06F-019/00
출원번호 US-0951723 (2010-11-22)
등록번호 US-8660682 (2014-02-25)
발명자 / 주소
  • Hofman, Gertjan
  • Beselt, Ron
출원인 / 주소
  • Honeywell ASCa Inc.
대리인 / 주소
    Cascio Schmoyer & Zervas
인용정보 피인용 횟수 : 1  인용 특허 : 14

초록

Paper and continuous web scanners operate at varying and high temperature conditions. Regulating the temperature within the measurement gap between dual scanner heads during measurement and calibration modes of operation by employing air wipe and sheet guide temperature control assures consistent an

대표청구항

1. A system for controlling the temperature in a measurement gap adapted to accommodate a continuous web, having a first side and a second side, that travels in a downstream direction, which comprises: (a) a first sensor head disposed adjacent to a first side of the web, the first sensor head includ

이 특허에 인용된 특허 (14)

  1. Robert W. M. Yeung CA, Airflow sharing.
  2. Hegland Philip (San Jose CA) Chase Lee (Los Gatos CA), Basis weight gauge standardizing method and system.
  3. Haran,Frank M., Combined paper sheet temperature and moisture sensor.
  4. Gordon Daniel A. ; Alguard Mark J., Dual spectrometer color sensor.
  5. Heaven Edwin Michael Gyde,CAX ; Bucher Robert,CAX ; Powell Ron I.,CAX, Intelligent gap control for improved paper machine profile control.
  6. Readio, Philip O.; Schwendinger, Paul G.; Hulse, Andrew J., Method and apparatus for controlling a multi-source heating system.
  7. Chase Lee M. (Los Gatos CA) Goss John D. (San Jose CA), Method and apparatus for measuring and controlling the surface characteristics of sheet materials such as paper.
  8. Chase Lee ; Goss John ; Alguard Mark ; Axelrod Steve ; Herzlinger Peter ; Anderson Len ; King Harriss, Method and apparatus for optical alignment of a measuring head in an X-Y plane.
  9. Chase Lee M. (Los Gatos CA) Orkosalo Jorma (San Jose CA) Norton Kent M. (Saratoga CA), On-line sheet formation characterizing method and device.
  10. Shead Raymond P.,GB2, Scanner beam dynamic deflection measurement system and method.
  11. Dahlquist John A. (Palo Alto CA), Scanning interferometer sensor system.
  12. Deurenberg, Peter Hubertus Franciscus, System and method for controlling a LED luminary.
  13. Swanson S. Keith (Saratoga CA) Stepner David E. (Cupertino CA), Temperature control system for textile tenter frame apparatus.
  14. King Harriss T. ; Haefner Peter, Web thickness measurement system.

이 특허를 인용한 특허 (1)

  1. Tixier, Sebastien, Holmium oxide glasses as calibration standards for near infrared moisture sensors.
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