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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0479579 (2012-05-24) |
등록번호 | US-8860446 (2014-10-14) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 0 인용 특허 : 10 |
A probe apparatus may include a plurality of probe pins attached to a probe head portion. Each of the probe pins may be independently movable relative to the probe head portion.
1. A probe device for testing a land on an electronic device during a testing process, said probe device comprising: a probe head portion;a probe pin assembly attached to said probe head portion having a first probe pin and a second probe pin, the first probe pin having a contact surface adapted to
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