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특허 상세정보

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Multiple contact test probe

특허상세정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판) G01R-031/20   
미국특허분류(USC) 324/754.03; 324/755.05; 029/602.1; 439/269; 439/324
출원번호 US-0479579 (2012-05-24)
등록번호 US-8860446 (2014-10-14)
발명자 / 주소
  • Miyazaki, Hiroshi
출원인 / 주소
  • Texas Instruments Incorporated
대리인 / 주소
    Shaw, Steven A.
인용정보 피인용 횟수 : 0  인용 특허 : 10
초록

A probe apparatus may include a plurality of probe pins attached to a probe head portion. Each of the probe pins may be independently movable relative to the probe head portion.

대표
청구항
▼

1. A probe device for testing a land on an electronic device during a testing process, said probe device comprising: a probe head portion;a probe pin assembly attached to said probe head portion having a first probe pin and a second probe pin, the first probe pin having a contact surface adapted to contact said land;the second probe pin having a contact surface adapted to contact said land;wherein, said probe head portion is movable in a first direction to bring said first probe pin and second probe pin into contact with said land and in an opposite seco...

이 특허에 인용된 특허 (10)

  1. Kasukabe Susumu (Yokohama JPX) Ookubo Masasi (Yokohama JPX) Akiba Yutaka (Fujisawa JPX) Tanaka Minoru (Yokohama JPX) Yokono Hitoshi (Toride JPX), Apparatus for testing semiconductor device.
  2. Sherman, Neil S.; Steuer, Brian H., Connector for mating a contact pin with a device.
  3. Maruyama, Shigeyuki; Tashiro, Kazuhiro; Watanabe, Naoyuki; Koizumi, Daisuke; Hashitani, Takafumi; Yano, Ei, Contactor for testing semiconductor device and manufacturing method thereof.
  4. Soes Lucas (Rosmalen NLX), Electrical switch.
  5. Matsuoka Noriyuki (Tokyo JPX) Sasaki Tomio (Tokyo JPX), IC connector.
  6. Masuzima Sho (Tokyo JA) Takahashi Tetsuo (Tokyo JA) Taguchi Yoshinobu (Tokyo JA) Fujita Hisashi (Tokyo JA), Machine for processing and securing parallel lead electronic circuit elements to a printed circuit board.
  7. Hikita Hiroshi (Kanagawa JPX), Method of producing a contact spring structure of an electromagnetic relay.
  8. Kato, Yuji; Suzuki, Takeyuki, Probe pin and an IC socket with the same.
  9. Baumgarth Charles F. (North Palm Beach FL), Separately loaded strip seal.
  10. Fukunaga Masami,JPX ; Shimada Hideo,JPX ; Ohhashi Yoshiyuki,JPX, Socket for electrical parts.

IPC 상위 출원인