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Validation and correction of spectrometer performance using a validation cell 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01N-021/27
  • G01J-003/28
  • G01J-003/42
  • G01N-021/03
  • G01N-021/31
  • G01N-021/3504
  • G01N-021/3518
  • G01N-021/39
출원번호 US-0027000 (2011-02-14)
등록번호 US-8953165 (2015-02-10)
발명자 / 주소
  • Feitisch, Alfred
  • Keller, Lutz
  • Liu, Xiang
  • Schrempel, Mathias
  • Helbley, Keith Benjamin
출원인 / 주소
  • SpectraSensors, Inc.
대리인 / 주소
    Mintz Levin Cohn Ferris Glovsky and Popeo, P.C.
인용정보 피인용 횟수 : 6  인용 특허 : 22

초록

Light intensity data quantifying intensity of light generated by a light source and received at a detector during a validation mode of an absorption spectrometer can be compared with a stored data set representing at least one previous measurement in a validation mode of an analytical system. The va

대표청구항

1. An apparatus comprising: a validation cell positioned such that a light path generated by a light source passes through the validation cell at least once in transmission of the light path from the light source to a detector, the validation cell containing a reference gas comprising a known amount

이 특허에 인용된 특허 (22)

  1. Eden, Gideon, Device for measuring gas concentration.
  2. Wong Jacob Y. (Santa Barbara CA), Diffusion-type gas sample chamber.
  3. Willing,Bert; Kohli,Markus; Seifert,Andreas, Gas detection method and gas detector device.
  4. Goldstein Neil (Medford MA) Bien Fritz (Concord MA) Bernstein Lawrence (Lexington MA), Gaseous species absorption monitor.
  5. Christopher J. Owen ; Eugene Tokhtuev ; Anatoly Skirda ; Robert M. Carlson ; Alexander Tokhtuev ; Viktor Slobodyan, Infrared spectrometer for the measurement of isotopic ratios.
  6. Di Maio Anthony E. (Georgetown MA) Bresnahan Alfred E. (Wenham MA) Todisco Joseph G. (Georgetown MA), Metal leveler tool.
  7. Brand Joel A. ; Monlux Garth A. ; Zmarzly Patrick ; Fetzer Gregory J. ; Halsted Benjamin C. ; Groff Kenneth W. ; Lee Jamine ; Goldstein Neil ; Richtsmeier Steven ; Bien Fritz, Method and apparatus for in situ gas concentration measurement.
  8. Koashi Katsue (Toyonaka JPX) Wada Atsuki (Shiga JPX), Method and apparatus for measuring concentration of a solution using pathlength complementally modulated cells.
  9. Randow, Albert; Dandl, Helmut; Krause, Hans, Method and apparatus for measuring the optical absorption of samples.
  10. Jones, Christopher; Sofer, Zvi; Drozd, Richard J., Method and apparatus for performing rapid isotopic analysis via laser spectroscopy.
  11. Buettner, Christian; Kuderer, Hubert, Multi-path flow cell correction.
  12. Eckstrom Donald J., NDIR apparatus and method for measuring isotopic ratios in gaseous samples.
  13. Horiba Atsushi (Kyoto JPX), Optoacoustic analyzer.
  14. Chen,Shin Juh; Silver,Joel A., Oxygen sensor for aircraft fuel inerting systems.
  15. Zhou, Xin; Liu, Xiang; Feitisch, Alfred; Sanger, Gregory M., Reactive gas detection in complex backgrounds.
  16. Zhou, Xin; Liu, Xiang; Feitisch, Alfred; Sanger, Gregory M., Reactive gas detection in complex backgrounds.
  17. Mantz Arlan W. (Acton MA) O\Connell John C. (Andover MA), Self-normalizing single-beam laser spectrometer.
  18. Durham Michael D. (Castle Rock CO) Stedman Donald H. (Englewood CO) Ebner Timothy G. (Westminster CO) Burkhardt Mark R. (Englewood CO), Spectrometer for measuring the concentration of components in a fluid stream and method for using same.
  19. Feitisch, Alfred; Keller, Lutz; Liu, Xiang; Schrempel, Mathias; Helbley, Keith Benjamin, Spectrometer with validation cell.
  20. Takeshi Fujita JP, Spectrophotometer with validation programs.
  21. Matsumoto, Koh; Dong, Jie; Masusaki, Hiroshi; Suzuki, Katsumasa, Spectroscopic method for analyzing a gas by using laser beam.
  22. Aidam Eckhard,DEX ; Weinel Johann,DEX, Two-beam gas analyzer and method for calibrating a two-beam gas analyzer.

이 특허를 인용한 특허 (6)

  1. Feitisch, Alfred; Liu, Xiang; Huang, Hsu-Hung; Ji, Wenhai; Cline, Richard L., Collisional broadening compensation using real or near-real time validation in spectroscopic analyzers.
  2. Dehe, Alfons; Kolb, Stefan; Theuss, Horst, Photoacoustic gas sensor device and a method for analyzing gas.
  3. Neubauer, Gabi; Feitisch, Alfred; Schrempel, Mathias, Semiconductor laser mounting for improved frequency stability.
  4. Feitisch, Alfred; Neubauer, Gabi; Schrempel, Mathias, Semiconductor laser mounting with intact diffusion barrier layer.
  5. Feitisch, Alfred; Neubauer, Gabi; Schrempel, Mathias, Semiconductor laser mounting with intact diffusion barrier layer.
  6. Feitisch, Alfred; Neubauer, Gabi; Schrempel, Mathias, Solderless mounting for semiconductor lasers.
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