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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0842854 (2013-03-15) |
등록번호 | US-9244117 (2016-01-26) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 95 인용 특허 : 0 |
Systems and methods which utilize spread spectrum sensing on live circuits to obtain information regarding a circuit under test are provided. In some embodiments S/SSTDR testing may be utilized to obtain R, L, C and Z measurements from circuit components. In yet further embodiments, these measuremen
1. A method for testing a device in its operating environment, the method comprising: forming, by a testing device, a spread spectrum time domain reflectometry (S/SSTDR) signal;transmitting the formed signal to an electronic circuit in its operating environment which is communicatively connected to
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