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NTIS 바로가기국가/구분 | United States(US) Patent 등록 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | US-0327973 (2011-12-16) |
등록번호 | US-9411016 (2016-08-09) |
우선권정보 | GB-1021430.2 (2010-12-17); GB-1120802.2 (2011-12-05) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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인용정보 | 피인용 횟수 : 0 인용 특허 : 65 |
A method of testing a voltage protection device in a circuit is provided. The circuit comprises a source and load and a detector is provided in parallel with the protection device. The method comprises opening a switching device provided in the circuit. The method further comprises detecting a prope
1. A protection device tester for testing a protection device in a circuit comprising a source and load, the protection device tester comprising: a detector electrically connected in parallel to the protection device to detect a property of a voltage spike produced by opening a switching device prov
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