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Pellicle for reticle and multilayer mirror 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G03F-007/20
  • B82Y-010/00
  • B82Y-040/00
  • C01B-031/04
  • G02B-005/08
  • G02B-005/20
  • G02B-027/00
  • G03F-001/24
  • G03F-001/62
  • G21K-001/06
  • H01B-001/04
  • H01B-001/24
  • G03B-027/54
출원번호 US-0181076 (2014-02-14)
등록번호 US-9482960 (2016-11-01)
발명자 / 주소
  • Yakunin, Andrei Mikhailovich
  • Banine, Vadim Yevgenyevich
  • Loopstra, Erik Roelof
  • Van Der Schoot, Harmen Klaas
  • Stevens, Lucas Henricus Johannes
  • Van Kampen, Maarten
출원인 / 주소
  • ASML NETHERLANDS B.V.
대리인 / 주소
    Pillsbury Winthrop Shaw Pittman LLP
인용정보 피인용 횟수 : 2  인용 특허 : 13

초록

A pellicle that includes graphene is constructed and arranged for an EUV reticle. A multilayer mirror includes graphene as an outermost layer.

대표청구항

1. A pellicle module constructed and arranged for an EUV reticle, the pellicle module comprising: a pellicle frame, configured and arranged to hold a pellicle at a fixed distance from the EUV reticle; andwherein the pellicle comprises a layer of graphene. 2. The pellicle according to claim 1, wherei

이 특허에 인용된 특허 (13)

  1. Yan Pei-Yang, Clean-enclosure window to protect photolithographic mask.
  2. Endo,Akira; Hoshino,Hideo, Debris collector for EUV light generator.
  3. Jonkers, Jeroen, EUV-transparent interface structure.
  4. Ikeda, Takeshi; Koizumi, Kazuo; Takeda, Hiroyuki; Koyama, Tetsuo; Watanabe, Keiichi, Exhaust system.
  5. Yonekawa, Masami; Inoue, Mitsuru, Exposure apparatus and original.
  6. Ota, Kazuya, Exposure method and exposure apparatus.
  7. Bakker,Levinius Pieter; Kurt,Ralph, Filter window, lithographic projection apparatus, filter window manufacturing method, device manufacturing method and device manufactured thereby.
  8. Yakunin, Andrei Mikhailovich; Banine, Vadim Yevgenyevich; Loopstra, Erik Roelof; Van Der Schoot, Harmen Klaas; Stevens, Lucas Henricus Johannes; Van Kampen, Maarten, Lithographic apparatus and method.
  9. Sjmaenok, Leonid Aizikovitch; Banine, Vadim Yevgenyevich; Smits, Josephus Jacobus; Van Den Wildenberg, Lambertus Adrianus; Schmidt, Alexander Alexandrovitch; Wassink, Arnoud Cornelis; Verpalen, Eric Louis Willem; Van De Pas, Antonius Johannes; Brom, Paul Peter Anna Antonius, Lithographic apparatus, contaminant trap, and device manufacturing method.
  10. Schuurmans,Frank Jeroen Pieter; Bakker,Levinus Pieter, Lithographic projection apparatus and reflector assembly for use therein.
  11. Jonkers, Jeroen; Bakker, Levinus Pieter; Schuurmans, Frank Jeroen Pieter, Method and device for removing particles generated by means of a radiation source during generation of short-wave radiation.
  12. Ehm, Dirk Heinrich; Schmidt, Stefan-Wolfgang; Dengel, Guenther, Optical arrangement, in particular in a projection exposure apparatus for EUV lithography.
  13. Banine, Vadim Yevgenyevich; Bleeker, Arno Jan, Pellicle, lithographic apparatus and device manufacturing method.

이 특허를 인용한 특허 (2)

  1. Kim, Mun Ja; Yoo, Ji-beom; Kim, Seul-gi; Cho, Sang-jin; Chang, Myung-shik; You, Jang-dong, Pellicle film including graphite-containing thin film for extreme ultraviolet lithography.
  2. Yakunin, Andrei Mikhailovich; Banine, Vadim Yevgenyevich; Loopstra, Erik Roelof; Van Der Schoot, Harmen Klaas; Stevens, Lucas Henricus Johannes; Van Kampen, Maarten, Pellicle for reticle and multilayer mirror.
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