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Optical frequency domain reflectometry (OFDR) system 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H04B-010/071
  • H04B-010/25
  • G01M-011/00
출원번호 US-0432877 (2013-09-16)
등록번호 US-9553664 (2017-01-24)
우선권정보 EP-12188515 (2012-10-15)
국제출원번호 PCT/EP2013/069083 (2013-09-16)
국제공개번호 WO2014/060158 (2014-04-24)
발명자 / 주소
  • Horikx, Jeroen Jan Lambertus
  • 'T Hooft, Gert Wo
  • Marell, Milan Jan Henri
출원인 / 주소
  • Koninklijke Philips N.V.
인용정보 피인용 횟수 : 1  인용 특허 : 8

초록

There is presented an optical frequency domain reflectometry (OFDR) system (100) comprising a first coupling point (15) arranged for splitting radiation into two parts, so that radiation may be emitted into a reference path (16) and a measurement path (17). The system further comprises an optical de

대표청구항

1. An optical frequency domain reflectometry (OFDR) system, the system comprising: an optical radiation source capable of emitting optical radiation within a certain wavelength band, the radiation source being optically connected to a first coupling point arranged for splitting the radiation into tw

이 특허에 인용된 특허 (8)

  1. Froggatt,Mark E., Apparatus and method for the complete characterization of optical devices including loss, birefringence and dispersion effects.
  2. Fukushima, Nobuhiro, Delay interferometer using magneto-optic effect of a variable faraday rotator.
  3. Froggatt, Mark E., Distributed strain and temperature discrimination in polarization maintaining fiber.
  4. Mikami, Hideharu, Interferometer, demodulator, and optical fiber communication module.
  5. Krause,Egbert, Interferometric-based device and method for determining chromatic dispersion of optical components using a polarimeter.
  6. Cyr,Normand, Method and apparatus for measuring polarization mode dispersion.
  7. Fan, Xinyu; Ito, Fumihiko; Koshikiya, Yusuke, Optical reflectometry and optical reflectometer.
  8. Wang, Feiling, Optically measuring substances using propagation modes of light.

이 특허를 인용한 특허 (1)

  1. Eyal, Avishay; Gabai, Haniel; Botsev, Yakov; Hahami, Meir, Spectrally efficient optical frequency-domain reflectometry using I/Q detection.
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