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[미국특허] Spring-loaded contacts 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • H01R-013/24
  • H01R-013/62
  • H01R-013/17
출원번호 US-0503307 (2014-09-30)
등록번호 US-9780475 (2017-10-03)
발명자 / 주소
  • Kim, Min Chul
  • DiFonzo, John
출원인 / 주소
  • Apple Inc.
대리인 / 주소
    Kilpatrick Townsend & Stockton, LLP
인용정보 피인용 횟수 : 1  인용 특허 : 25

초록

Spring-loaded contacts having an improved reliability. One example may provide spring-loaded contacts having a reduced likelihood of entanglement between a spring and a plunger. For example, a piston may be placed between a plunger and a spring. The piston may have a head portion that is wider than

대표청구항

1. A spring-loaded contact for an electrical connector, the spring-loaded contact comprising: a barrel having a cylindrical wall, the wall terminating at one end in a front opening;a plunger partially enclosed by the barrel and having a front portion extending through the front opening of the barrel

이 특허에 인용된 특허 (25) 인용/피인용 타임라인 분석

  1. Boyle Stephen A., Coaxial contact assembly apparatus.
  2. Jing, Lu, Compressible pin assembly.
  3. Ito Atsushi,JPX, Connecting pin having electrically conductive magnetic fluid.
  4. Toivanen, Seppo; Arai, Yoshitaka, Connector.
  5. Kamon Yoshiyuki (Kanagawa JPX) Ogiwara Akira (Kanagawa JPX) Nageno Koji (Tokyo JPX), Connector apparatus.
  6. Wang, Hsin-Chieh; Chen, Wei-Chu; Shen, Yuan-Hsiang; Liu, Hsiao-Wei; Cheng, Yu-Min; Su, Yen-Ching; Yu, Huei-Che; Tsai, Bor-Chen, Connector assembly.
  7. Sanders, David L., Contact probe with off-centered back-drilled aperture.
  8. Mori, Shuhi, Contact terminal having a plunger pin.
  9. Gordon A. Vinther ; James A. Buccini, Sr. ; Kenneth Grendziszewski, Crown shaped contact barrel configuration for spring probe.
  10. Coe Thomas D. (Boxford MA), Electrical connector for electrical circuit test probe and connector.
  11. Boyle Stephen A., Electrical contact assembly for interconnecting test apparatus and the like.
  12. Cooney James S. (Attleboro MA), Electrical contact construction.
  13. Meek, Ron; Thurston, William E., Electrical contact interface.
  14. Kainz, Andreas, Electrical pressure contact.
  15. Nelson,Larre H.; Winter,John M., Electrical test probes, methods of making, and methods of using.
  16. Yamada, Hiroshi; Okamoto, Tomomi, Electronic component connecting apparatus, electronic unit and electronic apparatus.
  17. Sanders, David L., Environmentally sealed contact.
  18. Cullen W. Paul (Scotia NY) Wintermute Pamela B. (Ballston Spa NY), Method and apparatus for frequently connecting and disconnecting signal cables.
  19. Steven Feldman, Method and apparatus for retaining a spring probe.
  20. Nguyen, Can Trong, Optic fiber connector spring retainer.
  21. Krger Gustav (Herrenberg DEX), Probe assembly for circuit-board tester.
  22. Cooney James S. (Attleboro MA), Production of metal-plated areas on selected interior portions of deep-drawn tubular parts.
  23. Swart Mark A. ; Vinther Gordon A., Spring probe and method for biasing.
  24. Kim, Min Chul, Spring-loaded contact having dome-shaped piston.
  25. Tate, John O., Test socket.

이 특허를 인용한 특허 (1) 인용/피인용 타임라인 분석

  1. Tsai, Tsung-Ming; Lin, Yu-Shou; Hsieh, Shen-Yi, Large-slippage connector.

활용도 분석정보

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