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[미국특허] Apparatus for determining thickness of lining layer 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01B-015/02
  • G01N-023/203
출원번호 US-0324170 (2015-07-23)
등록번호 US-9885566 (2018-02-06)
우선권정보 GB-1413119.7 (2014-07-24); GB-1501679.3 (2015-02-02)
국제출원번호 PCT/GB2015/052138 (2015-07-23)
국제공개번호 WO2016/012799 (2016-01-28)
발명자 / 주소
  • Ferguson, Jnr., Dave Doyle
  • Ronchi, Emanuele
  • Tipton, Carl Robert
출원인 / 주소
  • Johnson Matthey Public Limited Company
대리인 / 주소
    Baker & Hostetler LLP
인용정보 피인용 횟수 : 0  인용 특허 : 16

초록

An apparatus (2) for determining thickness of refractory material (4) lining a metal vessel (6) is disclosed. The apparatus includes a radiation source (16) for emitting radiation through a metal wall of the vessel and into the refractory material, wherein some of the radiation is scattered by the r

대표청구항

1. An apparatus for determining thickness of refractory material lining a metal vessel, the apparatus comprising: a source of gamma radiation for emitting gamma radiation through a metal wall of the vessel and into said lining material, wherein some of said gamma radiation is scattered by said linin

이 특허에 인용된 특허 (16) 인용/피인용 타임라인 분석

  1. Regimand Ali (Raleigh NC), Apparatus and method for accurately measuring the density of materials with rough surfaces by radiation backscatter.
  2. Regimand Ali (Raleigh NC), Apparatus and method for directly measuring the density of a thin layer.
  3. Regimand Ali (Raleigh NC), Asphalt content gauge with compensation for sample temperature deviations.
  4. Le Floc\h Christian (Blanquefort FRX) Mazeron Bernard (St-Aubin De Medoc FRX) Babot Daniel (Villeurbranne FRX) Peix Gilles (Villeurbranne FRX), Device for determining the mass per unit volume of an elementary volume of material.
  5. Troxler, Robert Ernest; Dep, Wewage Hiran Linus, Material property gauges and related methods for determining a property of a material.
  6. MacKenzie Innes K.,CAX, Method and apparatus for measuring ice thickness on substrates using backscattering of gamma rays.
  7. Graf Edwin X., Method and apparatus for measuring sheet thickness in a paper-making machine.
  8. Ong Poen S. (Houston TX), Method for using secondary radiation scattering to evaluate the thickness of materials.
  9. Young James E. (Youngsville NC), Nuclear measuring gauge with automatic detection of source depth.
  10. Toms ; II Thomas M. (Raleigh NC), Nuclear radiation apparatus and methods for surveying physical characteristics and properties.
  11. Pratt ; Jr. James D. (Raleigh NC) Ely ; Jr. Ralph L. (Durham NC), One-block calibration method for density gauges.
  12. Regimand Ali (Raleigh NC), Portable nuclear moisture-density gauge with low activity nuclear sources.
  13. Walker William F. (Raleigh NC) Muse Peter D. (Durham NC), Radioactive source re-encapsulation including scored outer jacket.
  14. Birks Albert S. (Columbus OH) Skorpik James R. (Kennewick WA), System for inspecting large size structural components.
  15. Alzaidi, Samir Abdul-Majid, System for inspection and imaging of insulated pipes and vessels using backscattered radiation and X-ray fluorescence.
  16. Swanson ; deceased Frank R. (late of Freeport NY by Patricia Swanson ; executor ), Thickness measurement gauge.

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