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Distance sensor and measurement method 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 United States(US) Patent 등록
국제특허분류(IPC7판)
  • G01B-007/02
  • G01D-005/241
출원번호 US-0625018 (2015-02-18)
등록번호 US-9891035 (2018-02-13)
우선권정보 JP-2014-029936 (2014-02-19)
발명자 / 주소
  • Matsumoto, Kenji
  • Mihara, Yuji
출원인 / 주소
  • HONDA MOTOR CO., LTD.
대리인 / 주소
    Westerman, Hattori, Daniels & Adrian, LLP
인용정보 피인용 횟수 : 0  인용 특허 : 10

초록

A capacitive distance sensor includes a first guard electrode, a conductor, a second guard electrode, and insulators. The conductor includes a sensor electrode and a lead portion and is arranged on a side of a measurement target with respect to the first guard electrode. The second guard electrode i

대표청구항

1. A capacitive distance sensor comprising: a first guard electrode;a conductor comprising a sensor electrode, a lead portion extending from said sensor electrode and a terminal portion connected to an end of said lead portion and arranged on a side of a measurement target with respect to said first

이 특허에 인용된 특허 (10)

  1. Risko Donald G. (Monroeville PA), Capacitance measurement probe.
  2. Marcus Michael A. (Honeoye Falls NY) Graff Ernest A. (Ontario NY), Capacitance probe for measuring a width of a clearance between parts.
  3. Cox Harold A. (Highway 49 North ; Rte. 15 ; Box 559 Hattiesburg MS 39401), Capacitive sensor.
  4. Ikeda Masaharu,JPX ; Esashi Masayoshi,JPX, Capacitive transducer having guard electrode and buffer amlifying means.
  5. Hirota, Yoshihiro; Matsumoto, Toshiyuki; Hiroshima, Tatsuo, Electrostatic capacitance sensor, electrostatic capacitance sensor component, object mounting body and object mounting apparatus.
  6. Hirota,Yoshihiro; Matsumoto,Toshiyuki; Hiroshima,Tatsuo, Electrostatic capacitance sensor, electrostatic capacitance sensor component, object mounting body and object mounting apparatus.
  7. Nomura Kazuo,JPX ; Tanaka Kiyoshi,JPX ; Nakao Satoshi,JPX ; Tanigami Hideki,JPX ; Hayashi Kazutaka,JPX, Electrostatic capacity-type pressure sensor with reduced variation in reference capacitance.
  8. Hirae Sadao (Kyoto JPX) Matsubara Hideaki (Kyoto JPX) Kouno Motohiro (Kyoto JPX) Sakai Takamasa (Kyoto JPX), Non-destructive measuring sensor for semiconductor wafer and method of manufacturing the same.
  9. Kojima Takao (Aichi) Kitsukawa Kanehisa (Aichi) Yasuda Toshikatsu (Aichi) Mizumoto Katsuyoshi (Aichi JPX), Pressure sensor.
  10. Cahill Sean Samuel ; Neda Tokudai,JPX, Semiconductor layer pressure switch.
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